熔點測定儀偏光熔點測定儀恒溫工作加熱臺
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海天省光學儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2018/5/14 9:00:00
- 訪問次數 561
產品標簽
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XPR-300系列偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業zui常用的專業實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測,有自動P、I、D調節,及模糊手動調節功能,偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值,儀表顯示準確、清晰、穩定,對溫度控制可設定程序,設有“上、下”限自動報警裝置,并可隨時檢查設定的溫度數據,是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴展性,可以接計算機和數碼相機,對圖片進行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產品。
目鏡:10X 視場直徑φ18mm
分劃目鏡:10X 視場直徑φ18mm
物鏡:4X 10X 25X 40X 63X
放大倍數:40X-630X 系統放大倍數:40X-2600X。
聚光鏡數值孔徑:NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡,中心可調
起偏鏡:振動方向360°可調,帶鎖緊裝置,可移動光路
檢偏鏡:可移出光路,旋轉范圍90°內置勃氏鏡,中心、焦距可調
補償器:λ片(φ18mm,一級紅,光程差551nm) λ/4片(φ18mm, 光程差147.3nm)
石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ級)
調焦系統:帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微調,格值為0.002mm
電光源:6V/20W鹵素燈(亮度可調)
聚光鏡數值孔徑:NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡,中心可調
起偏鏡:振動方向360°可調,帶鎖緊裝置,可移動光路
檢偏鏡:可移出光路,旋轉范圍90°內置勃氏鏡,中心、焦距可調
補償器:λ片(φ18mm,一級紅,光程差551nm) λ/4片(φ18mm, 光程差147.3nm)
石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ級)
調焦系統:帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微調,格值為0.002mm
電光源:6V/20W鹵素燈(亮度可調)
偏光熔點測定儀系統是將精密的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、*的計算機圖像處理技術*地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像,并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
顯微精密控溫儀
在 20X 物鏡下工作溫度可達到zui高300 ℃、溫度運行程序全自動控制;溫度程序段由用戶自行設定,30段溫度編程,循環操作,能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度,及在該段內可維持時間,升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。
在 20X 物鏡下工作溫度可達到zui高300 ℃、溫度運行程序全自動控制;溫度程序段由用戶自行設定,30段溫度編程,循環操作,能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度,及在該段內可維持時間,升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。
可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1
起始溫度室溫 工作區加熱使用面積至少1X1cm 工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC
透光區域 2mm以上,可調 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
熱臺可以隨載物臺移動
熔點測定溫度超過100度時,25X的物鏡工作距離太近,容易損壞鏡頭,請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡
熱臺可以隨載物臺移動
熔點測定溫度超過100度時,25X的物鏡工作距離太近,容易損壞鏡頭,請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡
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