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探真納米科技自主研發的TZ Sharp-TapL130-Electric導電探針,擁有大高寬比圓錐針尖以及側壁垂直針托。該系列產品不僅在分辨率、使用壽命等關鍵指標上優于進口同類產品,更以高性價比優勢成為AFM探針國產替代的理想選擇。
大高寬比圓錐針尖
1、TZ Sharp系列探針的圓錐形針尖,使其在與傳統金字塔探針使用成本接近的前提下,因擁有大高寬比的優勢而可以適配更多測試場景,如:深溝槽、陡直臺階等。
2、TZ Sharp系列探針針尖半錐角小,針尖尖更細長尖銳,相比金字塔探針,同樣的磨損后依然很尖,使用壽命更長。
3、TZ Sharp系列探針噪音低,可以掃描單原子層二維材料和亞納米的原子級臺階。
側壁垂直臺階針托
1、TzSharp系列AFM探針針托兩側側壁陡直,而不是<111>面斜坡,更加便于夾取,改善了探針夾取過程中易掉落的問題。
2、TZ Sharp系列探針懸臂梁與針托連接處采用了臺階結構設計,對光路友好,激光入射角更廣,適用于各種型號AFM機臺。