非飽和高壓試驗箱 IC 芯片 HAST 測試設備
| 參考價 | ￥ 22000 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 東莞市皓天試驗設備有限公司
- 品牌 皓天鑫
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/7/11 9:16:21
- 訪問次數 13
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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子/電池 |
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非飽和高壓試驗箱 IC 芯片 HAST 測試設備
非飽和高壓試驗箱的核心優勢在于 “非飽和環境” 的穩定維持 —— 通過的干濕分離控濕技術，在高壓密閉空間內將相對濕度控制在 10%~50% RH（無凝結水），避免傳統飽和高壓試驗箱因水汽凝結對敏感樣品（如半導體芯片、精密電路）造成的二次損傷。其技術原理基于 “高壓加速老化（HAST）” 理論，通過提升溫度與壓力，將自然環境下數年的老化過程壓縮至數天內完成，測試效率較常規濕熱試驗箱提升 30 倍以上。
非飽和高壓試驗箱 IC 芯片 HAST 測試設備
設備采用模塊化結構設計，關鍵組成包括：
核心腔體：采用鈦合金內膽（耐高壓腐蝕，使用壽命≥10 萬小時），容積可選 50L~500L，支持多樣品分層放置（承載 50kg）；
環境控制系統：進口 PID 溫控模塊（控溫精度 ±0.5℃）、高壓氣泵（壓力控制精度 ±0.01MPa）、高頻超聲加濕器（濕度波動≤3% RH），協同維持非飽和環境穩定；
監測系統：內置光纖傳感器（抗電磁干擾），實時采集腔體內溫濕度、壓力數據，采樣頻率達 10 次 / 秒；
安全系統：超壓自動泄壓閥（響應時間＜0.1 秒）、高溫預警、漏電保護，符合 ASME BPVC 安全標準。
半導體與電子元件
針對芯片封裝、PCB 板、連接器等，模擬熱帶高壓低濕環境（如 121℃、1.0MPa、30% RH），測試焊點可靠性、封裝密封性及絕緣電阻變化。某芯片廠商通過測試發現，某批次產品在 1000 小時試驗后引腳腐蝕率下降 72%，成功解決海外熱帶市場的退貨問題。
非飽和環境精準控制
采用 “露點溫差補償技術”，在 1.0MPa 高壓下仍能將濕度穩定在 10%~50% RH（波動≤±2%），避免水汽凝結對電子元件的短路風險。對比傳統飽和試驗箱，對敏感樣品的測試準確性提升 40%。
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