自旋電子學經過數十年的發展，已在傳感器、非易失性磁存儲以及新材料特性研究等多個領域展現出重要價值。它不僅是當前科學研究的前沿熱點，也受到了工業界的廣泛重視。對磁疇進行直接觀測與記錄，對于深入理解材料特性具有重要意義；而剖析磁疇的運動過程，不僅能直觀展示磁性翻轉現象，更有助于揭示其背后的物理機理。

傳統的單點磁滯回線測量儀已難以滿足當前需求，相比之下，磁光克爾綜合測試平臺能夠追蹤平面內數百萬點的實時磁性動態信息。配合該平臺提供的直流探針和高頻探針，樣品測試變得無比便捷。如今，自旋電子學與磁學的研究已從早期的磁性驅動翻轉，深入到直流電流、脈沖電流、微波脈沖乃至光驅動等多種激勵源作用下的復雜過程研究。

在這樣的背景下，托托科技 磁光克爾顯微鏡綜合測試設備——TTT-02-Kerr Microscope。顯微磁疇空間分辨率優于0.5微米，磁光克爾角分辨率優于0.1毫度，并支持極向、縱向、橫向三種磁光克爾效應測量方式。它不僅能實時追蹤平面內數百萬點的磁疇動態，還能搭配探針臺，實現電學、磁學、光學參數的同步觀測。因此，該設備廣泛應用于磁學和自旋電子學領域，是觀測磁光克爾效應、磁滯回線、磁疇翻轉與擴展等關鍵現象的理想工具。

托托科技 磁光克爾顯微鏡綜合測試設備擁有多項產品亮點：

智能照明系統：

提供穩定且均勻的光源。

具備極向、縱向和橫向測試能力。

光源亮度高達市場上同類產品的4倍。

多功能顯微系統：

支持線偏振光和圓偏振光。

提升了相差畸變矯正效果。

配備電動顯微聚焦功能。

矢量磁場系統：

垂直磁場模式Z高可達1.4T（間隙1cm）。

面內磁場Z高可達1.0T（間隙1cm）或0.36T（間隙4cm），并適配低溫恒溫器；矢量模式可達0.35T。

面垂直磁場與面內磁場可快速切換。

相機系統：

超動態范圍達30000:1（相比同類提升十倍）。

高量子效率超過80%（相比同類提升1.2倍）。

支持高速攝像與高分辨率成像。

直流/交流探針：

可與多種外接電表匹配（如6221，2400等）。

可配合高頻電表使用。

適用于配合引線鍵合器件進行測試。

光學平臺：

采用氣浮隔振技術。

配備電子主動反饋隔振系統，確保穩定性。