日本AITEC艾泰克NIR/SWIR光源盒LLBKC系列
- 公司名稱 成都藤田光學儀器有限公司
- 品牌 AITEC/艾泰克
- 型號
- 產地 日本
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/7/8 11:57:52
- 訪問次數 47
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日本HOYA豪雅(UV固化燈,玻璃鏡片)，日本MUSASHI武藏(點膠機)，日本KANOMAX加野(粒子計數風速儀)，日本FLUORO福樂(用于晶圓的搬 運)，日本AND艾安得(電子天平)
| 光源種類 | 紅外光源 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 | 照射方式 | 外照式 |
日本AITEC艾泰克NIR/SWIR光源盒LLBKC系列
日本AITEC艾泰克NIR/SWIR光源盒LLBKC系列
一、產品核心價值
LLBKC系列是AITEC公司針對工業精密檢測研發的第三代紅外光源系統，采用LED陣列技術實現740-1650nm寬光譜覆蓋。該產品突破了傳統紅外光源在穩定性、壽命和熱管理方面的技術瓶頸，通過模塊化設計為機器視覺系統提供"零熱干擾"的光學引擎。其核心價值體現在三方面：1）多波長精準匹配物質特征吸收峰；2）超緊湊機身適應自動化設備集成需求；3）智能聯網功能滿足工業4.0標準。
二、關鍵技術突破
光譜工程創新
提供10個標準波長選項（740/850/940/1050/1100/1200/1300/1450/1550/1650nm）
支持雙波段混合輸出（如940+1450nm組合）
光譜半寬窄至±15nm（1550nm型號）
光學性能優化
非球面透鏡組實現＞85%均勻性
可調焦設計（Φ8-14mm光斑連續可變）
瞬態響應時間＜1ms（PWM調光模式）
工業級可靠性
鋁合金一體成型外殼（IP54防護）
智能溫控系統（工作溫度-20℃~50℃）
平均安全運行時間＞50,000小時（@25℃）
三、典型應用表現
半導體檢測領域
晶圓隱裂識別（1050nm穿透硅基材）
芯片封裝氣泡檢測（1550nm高反光成像）
精度達2μm級缺陷捕捉
農產品分選系統
1450nm波段水分含量分析（誤差小于0.5%）
近紅外成分快速篩查（每秒30次采樣）
醫療設備集成
靜脈成像導航（850nm表皮穿透）
藥片成分無損檢測（PLS算法支持）
四、技術服務支持
中國區48小時技術響應（蘇州/成都備件中心）
免費提供光學仿真方案驗證
三年質保（含光強衰減補償服務）
支持OEM/ODM深度定制（波長/尺寸/接口）
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