And艾安德檢定內置分度電子天平GX-A-K系列

And艾安德檢定內置分度電子天平GX-A-K系列

產品定位與技術架構

日本AND艾安德GX-A-K系列是專為制藥、貴金屬檢測及精密制造業開發的工業級電子天平，通過內置可追溯性校準砝碼（符合JJG 1036-2022檢定規程）和動態溫度補償系統，實現0.0001g-0.1g分度值精度。其模塊化設計支持快速適配生產線、實驗室等場景，2025年升級版更通過德國PTB認證，成為全球少數同時滿足ISO/IEC 17025和GMP Annex 11標準的便攜式計量設備。

核心技術突破

1. 智能傳感系統

• 采用第七代Smart SHS®傳感器，將電磁力補償響應速度提升至0.8秒（較前代提升40%）

• 自主雙模濾波技術可消除環境振動（＜5Hz）及電磁干擾（30V/m場強下誤差小于0.005%）

2. 全場景適應性

• IP65防護機身通過3小時連續鹽霧測試（ASTM B117標準）

• 工作溫度范圍擴展至-10℃~50℃，濕度耐受達95%RH（非冷凝）

3. 數字化管理接口

• 標配工業級RS-232C+USB+藍牙5.2三通道輸出

• 支持通過AND Metrology Cloud平臺實現多設備數據聚合與偏差分析

典型應用驗證

• 制藥行業：在API原料稱量中實現±0.25%的重復性誤差（USP41標準）

• 貴金屬交易：上海黃金交易所指定用于1kg金錠交割計量（誤差小于0.003%）

• 汽車制造：與ABB機械臂集成實現焊膏自動定量（周期＜3秒/次）

服務支持體系

提供3年超長保修（含傳感器免費更換1次），用戶可通過機身NFC標簽觸發自動報修流程。隨機附贈Metrology QA軟件，可生成符合FDA 21 CFR Part 11規范的審計追蹤報告。