lambda-vision日本拉姆達光譜測量儀LAMBDA
顯微測量分光光譜儀LVmicro-Z

它是工業領域顯微光譜學的行業標準!

近年來,在各個領域的微器件的制造和開發中，出現了對小規模光譜測量的需求。

我們提出了2 μ m顯微鏡范圍內的高精度、高穩定性的顯微光譜測量技術。

φ2μ m以上的透射率/反射率

L .Vmicro-Z/1 主要用于5倍物鏡。

該系列基于使用5倍物鏡(15μ m/30μ m光斑尺寸)的測量。

不包括自動對焦(僅限手動對焦)

(使用LVmicro-Z/2 20/50x物鏡進對焦測量,可以測量2μm以上的光斑尺寸。

與LVmicro-Z/1相比,它具有耐振動的剛度，可實現穩定的微小點測量。

可選功能/R該單位用于測量反射率。與射摔-一樣, 它由-一個直接的小孔光學系統組成。

可選功能/ 0B.該裝置用于測量漫反射率。這是在印刷品等小區域進行的漫反射比色法測量。

<特點>

■最小可測量2μm。(在顯微圖像的情況下，可能需要高精度的隔振臺作為測量環境)

1 1只有觀察區域被光照射,不會生成來自其他區域的數據。(Naora小孔測量)

■I自動對焦標準設備(LVmicro- Z/2)最大限度地減少了單個誤差，自動載物臺用于Z軸樣品垂直移動。

■標配圖像觀察 USB攝像頭，可保存圖像。(也用于自動對焦)

■觀察區域用指針燈照射,因此-目了然地知道正在測量哪個位置。

■除_ 上述指針燈外,還有-一個通用照明(采用白色LED)用于觀察整個樣品的圖像,并且在光譜測量過程中燈會自動關閉。

■光譜光源采用高精度穩 壓鹵秦燈和穩壓電源。

■樣品臺也有 6英寸、8英寸和14英寸樣品臺(手動)。可選自動暫存。

■光譜檢測部分采用高靈敏度00D,即使來自非常小區域的微弱信號也能實現穩定測量。

■目 前,數據匹配校正功能適用于使用其他公司的光譜儀收集數據的用戶。

1 1配備各種管理功能，可通過色度、透射率等設置控制范圍, 判斷產品是否合格或有缺陷。

通過選擇顯微鏡或分光光度探測器并使用XY樣品臺，可以測量近柴外可見光和近紅外區域的光譜。

■光譜透射光譜 (標準功能)

■光譜吸光度光譜 (外徑測量) (標準功能)

I 1光譜反射光譜(帶/R反射單元可選功能)

■光譜漫反射光譜(帶/OBJ反射 單元可選功能)

從上述顯微數據中可以使用以下應用程序。

比色值計算(X Y Z、x y L* a* b*.△Eak白平衡、NTSc值)
lambda-vision日本拉姆達光譜測量儀LAMBDA
LVmicro-Z1

LVmicro-Z2

顯微CD光譜測量系統LV-MCD

我們可.以以低廉的價格實現圓二色性(CD)光譜測量。

Lv-MCD是一種低成本系統能夠執行圓二色(0D)光譜測里.

有兩種類型的波長范圍可供選擇: 250nm"400nm型和400nm 800nm. .

通過使用封裝的PMT,可以進行高靈鈾度測量。

<特點>

●因二色(0D)光譜測量,價格低廉。

.通過使用封裝式PMT.可以進行高靈敏度測童:

低成本平面基板透射率/反射率測量單元LV-RTM

這是-種非常緊湊且低成本

的平面基板透射率/反射率測量裝置。

這是一個非常緊湊的平面荃板適射率反射李測里單元，可以安裝在桌面上

通過使用積分球,可以以低廉的價格進行“輕松”“任何人”和“具有良好的再現性”的測量。

此外:它是-種對樣品厚度和傾鈄度變化影響很小的測童方法。.

<特點>

CD值(吸光度)也可以測量。

.顏色可以從0IE和U0S地圖中直觀地確定

.遮光羅可阻擋環境光