低溫強磁綜合探針臺在光學兼容性及功能擴展性方面表現，高精度光學適配，多維度光路接入，可通過頂窗和側窗結構設計，靈活引入不同角度的入射光，滿足復雜光學測試需求。
低溫強磁綜合探針臺擁有極為靈活的配置，為滿足不同科研及測試需求，提供了豐富多樣的擴展模塊， 助力實現多種綜合測量。常規擴展選件有：基礎顯微鏡光學選件、光電流測試選件、磁光克爾測試選件、拉曼選件、 基礎材料電學測量選件、微納器件測試選件、霍爾效應測量選件、SOT測量選件等。
低溫強磁綜合探針臺集成了高磁場、寬溫區和閉環制冷、低振動技術等特性，一套PSM-SM系統即可能夠實現電 - 光 - 磁 - 溫多模態的原位測量，滿足MEMS等器件跨尺度表征的需求，是實驗室開展多物理場耦合測試的理想選擇。

產品特點：

- 超低溫，強磁場
• 采用閉循環制冷，無需消耗液氦，降低實驗成本
• 溫度范圍:2K~300K（無探針臂），支持全溫區連續精確控溫。寬溫區能夠模擬多種與常規的溫度環境，滿足不同材料在各種溫度條件下的特性科研需求
• 采用高性能超導磁體，實現7T磁場強度(3T，3-1-1T矢量可選)，顯著提升磁場豐富性

- 低振動

• 滿足振動敏感測量：的減震技術，雙極波紋管平衡結構，實現超低震動；標準系統振動（RMS)小于500nm，安裝低振動選件后，系統振動（RMS)小于50nm

- 探針測試方便快捷
• 樣品腔采用全屏蔽設計，能夠有效減小外界的電磁干擾提高測試的精準度和穩定性
• 探針臂的位移調節在真空腔外操作，探針臂 X-Y-Z調節，可以在不破壞真空的情況下，切換樣品上的不同器件進行測試。
• 直流臂采用三同軸接頭，漏電性能好，漏電流小于100fA
• 微波臂支持到110GHz，可滿足不同類型的微波測試需求
• 系統可安裝6個探針臂（直流、微波、光纖可選），可以根據實驗需求，靈活搭配，實現對樣品多種測試需求，獲取更全面的實驗數據

- 樣品空間大
• 樣品座尺寸35mm，探針可探測區域1英寸
• 可對薄膜、塊體、粉末和液體等各類樣品進行測試，提供多種樣品座可供選擇，包括光學樣品座、粉末樣品座、液體樣品座以及多電極樣品座等
• 樣品可以水平或垂直于磁場，方便研究不同磁場特性
• 高精度樣品定位：可選XYZR壓電位移臺實現器件的精準定位
• 預置電學接口：系統預置20根同軸電纜，用于傳輸電信號，低溫端采用FPC 接頭通斷，能夠適應低溫環境下的使用要求。

- 兼容性和擴展性強
• 高精度光學兼容：15mm工作距離，支持50x物鏡配套使用，便于微觀樣品的觀察和光信號耦合測試。
• 提供多種材料的側面光窗和頂部光窗，方便將各方向的光路引入樣品腔。樣品腔周圍可搭建各種光學光路，靈活實現各種光學測量
• 提供多種測試選件：納米量級顯微鏡光學選件、光電流測試選件、磁光克爾測試選件、拉曼選件、基本電學測量選件、微納器件電學測試選件、霍爾效應測量選件、SOT 測量選件等，全新方案設計，提供低溫強磁環境下材料的光信號和電信號測量的全套解決方案
• 集成智能化控制軟件，操作簡單，方便數據的記錄和導出

技術參數：