雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS

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公司名稱 北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
品牌 其他品牌
型號
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時間 2025/5/17 16:19:24
訪問次數(shù) 195

產(chǎn)品標(biāo)簽

應(yīng)力儀應(yīng)力雙折射儀光學(xué)測量儀器光學(xué)檢測設(shè)備光學(xué)材料測試儀器

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公司介紹 主營產(chǎn)品

北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年，專業(yè)代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學(xué)檢測設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括：

光學(xué)檢測產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調(diào)相位延遲波片等；

激光檢測產(chǎn)品：激光功率計、能量計及光束質(zhì)量分析儀等；

集成系統(tǒng)所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉(zhuǎn)換器等

顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。

值得一提的是，近年來公司科研團隊自主研發(fā)PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀，偏心曲率測量儀等產(chǎn)品，為今后的發(fā)展壯大奠定了堅實的基礎(chǔ)。

展開

測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切

應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)，具有生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品，該技術(shù)推出了低雙折射光彈性調(diào)制器（PEM）。PEM的調(diào)制純度增強了Exicor的靈敏度，這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz，提供快速測量功能。雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計與PEM科學(xué)相結(jié)合，提供了一個重要特性：光學(xué)系統(tǒng)中沒有移動部件。移動部件的缺失產(chǎn)生高機械可靠性以及測量的可重復(fù)性，并允許同時測量幅度和角度。Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。設(shè)計減去了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。氦氖激光束被偏振，然后被PEM調(diào)制。調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。

由Hinds儀器公司的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續(xù)測量。分析數(shù)據(jù)，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。當(dāng)在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預(yù)定的測量位置。結(jié)果以用戶指定的格式即時顯示。

雙折射（應(yīng)力）測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS：