大量現貨：MITUTOYO三豐微細形狀測量系統ULTRA UMAP 404

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高精度測量：如配備的 MPP - NANO 測頭可搭載最小直徑 125µm 的測針，能實現細微領域的 3D 掃描測量，測量精度可達 (0.8 + 2L/1000)µm。

多測頭結合：結合了影像測頭和掃描測頭（MPP - NANO、SP25M）等多種測頭，既具備影像測量的優勢，又能進行高精度的接觸式掃描測量，適用于不同類型的測量需求。

光學性能出色：采用與影像測量儀暢銷機型 QUICK VISION 系列相同的影像測頭，在影像測量方面性能出色；還配備觀察攝像頭，方便檢查工件表面狀況，確保測量準確性，也便于測量設置。

適應多種工件：可測量從微型到大型的各種工件，無論是小型的光學元件、精密沖模，還是較大尺寸的工件，都能通過不同的測頭和測量方式實現高精度測量。

可測量特殊部位：例如對于小孔徑、深孔等特殊部位的測量具有優勢，像使用 MPP - NANO 測頭的系統可對縱橫比高達 17:1 的孔進行接觸式掃描測量。

溫度適應性好：通過對稱結構、均勻材料和溫度補償等技術，保證在 10 - 40oC 的溫度范圍內具有較高的測量精度，能夠適應不同的工作環境溫度。

抗污染能力強：采用新開發的三豐絕對刻度，抗污染能力是傳統三坐標測量機的兩倍，能更好地適應生產現場等復雜環境。

節省安裝空間：采用單支撐移動橋架結構，將機器控制器存儲柜置于測量臺下方，占地面積相比傳統移動橋架型減少約 70%。

操作便捷友好：三面開放式架構，便于工件上下測量臺，減輕了操作人員的工作量；系統還配備彩色 LCD 觸摸屏等，操作簡便直觀，具有引導工具，方便用戶進行操作。

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