電鍍鍍層測厚光譜儀膜厚分析儀XU-100，下照式設計、性價比高、適用性強，輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測，且能自動判定測試結果。

電鍍鍍層測厚光譜儀膜厚分析儀性能優勢

● 檢測速度快

即放即測

● 變焦裝置算法

可對各種凹槽異形件進行檢測，凹槽深度測量范圍可達0-30mm

● 高精密微型移動滑軌

微米級移動精度，快速精準定位微小樣品

● 更高的性價比

制造工藝升級，更具性價比，節省使用成本

● 使用壽命長

模塊化設計，聚焦節能，搭載自動休眠模式，延長使用壽命

技術參數

型號

XU-100

測量元素范圍

CI(17)/AI(13)-U(92)

涂鍍層分析范圍

Li(3)-U(92)

RoHS

可選配

算法

自主研發的EFP算法

軟件操作

人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

X射線裝置

微聚焦射線管

準直孔

Ф0.1mm/Ф0.2mm/0.5mm/5mm(選配四準)

信號及接收

Pro-SD處理器+PC/DPP+FAST SDD(選配)

濾光片

選配集成嵌入式多濾光片切換裝置

微光聚焦技術

最近測距光斑擴散度 10%

測量距離

具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm

樣品觀測

1/2.7"彩色CCD，變焦功能

對焦方式

高敏感鏡頭，手動對焦

放大倍數

光學38-46X，數字放大40-200倍

儀器尺寸

550mm*360mm*410mm

樣品艙尺寸

長400mmx寬320mmx高150mm

樣品臺移動

選配高精密XY手動移動平臺

可移動范圍

50mm*50mm