| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 5千-1萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,化工,農林牧漁,電子/電池,電氣 |
池田屋SIBATA 防塵口罩密合性能測量設備
池田屋SIBATA 防塵口罩密合性能測量設備
池田屋日本廠家的中國代理SIBATA柴田科學，現貨全新 日本直銷。
池田屋日本廠家的中國代理SIBATA柴田科學，現貨全新 日本直銷。
該設備主要用于核電站對口罩面罩密合性、閥門泄漏性、過濾器捕集效率、吸入阻力等進行綜合檢查和管理，由NaCl粒子發生單元、測量單元、記錄計算單元組成。該裝置采用測量部位經過特殊表面處理的測試假人頭，面罩的佩戴由電機驅動，兼顧了測試時間和耐用性。此外，測量部分的所有序列都由微型計算機控制，記錄和計算部分使用個人計算機記錄和匯編操作過程和數據。
特點
：適用于核電站用防塵口罩性能的全面檢查和管理。
●微機自動控制，操作、記錄、匯編等均由個人計算機自動化。
●中關于防塵口罩的性能測試進行測試。
構成
● NaCl 粒子生成單元
將約2%NaCl水溶液以霧狀噴出，經單分散、干燥后，在一定條件下連續生成NaCl粒子。電源是整個裝置的動力來源，在各部分的輸出線上安裝有斷路器，防止過流，在記錄、計算輸出線上安裝有不間斷電源，以便在停電時備份電力。空氣凈化是對設備使用的壓縮空氣進行凈化、干燥，降低壓力至各管路的工作壓力并供給。
● 測量部分
該濃度檢測儀采用散射光積分法作為測量原理，同時測量試驗樣品上游和下游的NaCl顆粒濃度并評估收集效率。同時利用微差壓計測量試件的進氣阻力。
記錄和計算部分
通過個人計算機對檢測器進行檢查，并向測量部分發出指令，對試驗片進行測量，計算從測量部分輸入的計數值，并與判斷標準進行比較和評估。將獲得的數據按照規定的格式打印出來并記錄在SD卡或其他設備上，并需要每日報告測量結果和試件歷史記錄。
| 模型 | AP-9200NW | |
|---|---|---|
| 測量原理 | 集塵效率：光散射積分法 （數字粉塵計） 氣流阻力：可變電容傳感器式微差壓計 | |
| 測量什么 | 防塵口罩（全面罩和半面罩）和防塵濾毒盒 | |
| 測量范圍 | 集塵效率：0-99.99% 氣流阻力：0-1999Pa | |
| 測量精度 | ±1% | |
| 測量靈敏度 | 上游 1 CPM = 1 μg/m 3 , 1 Pa | |
| 測量項目 | 集塵效率、進氣阻力 | |
| NaCl 顆粒 | 幾何立方體等效直徑 = 0.06 至 0.1 μm 幾何標準偏差 σg = 1.8 以內 產生濃度：約30±5mg/ m3 | |
| 聚合字段 | 測試樣本種類、名稱、編號、上游/下游濃度、 收集效率、進氣阻力、通過/失敗判斷 測試樣本歷史追蹤 | |
| 錄音機 | 上游/下游濃度 | |
| 測試風量 | 吸入流量 最大85L/min（常態） 壓縮空氣0.5-1.0MPa 500NL/min | |
| 控制方法 | 順序控制：微電腦 總體控制及統計處理：個人計算機 | |
| 測量時間 | 120 秒（凈值） | |
| 尺寸和重量 | NaCl 粒子發生器：570（寬）x 840（深）x 1830（高），約 210 測量單元：570（寬）x 1240（深）x 1830（高），約 210 記錄和計算單元：670（寬）x 590（深）x 1260（高），約 60 | |
| 價格（不含稅） | 聯系我們 | |
| 評論 | *該設備主要用于核電站，對面罩面罩密合性、閥門泄漏、過濾器收集效率、吸入阻力等進行全面檢查和管理，由NaCl粒子發生單元、測量單元、記錄計算單元組成。 該設備之處在于采用測量部位經過特殊表面處理的測試假人頭，面罩的佩戴由電機驅動，兼顧了測試時間和耐用性。此外，測量部分的所有序列都由微型計算機控制，記錄和計算部分使用個人計算機記錄和匯編操作過程和數據。 | |
：適用于核電站用防塵口罩性能的全面檢查和管理。
●微機自動控制，操作、記錄、匯編等均由個人計算機自動化。
●中關于防塵口罩的性能測試進行測試。
構成
● NaCl 粒子生成單元
將約2%NaCl水溶液以霧狀噴出，經單分散、干燥后，在一定條件下連續生成NaCl粒子。電源是整個裝置的動力來源，在各部分的輸出線上安裝有斷路器，防止過流，在記錄、計算輸出線上安裝有不間斷電源，以便在停電時備份電力。空氣凈化是對設備使用的壓縮空氣進行凈化、干燥，降低壓力至各管路的工作壓力并供給。
● 測量部分
該濃度檢測儀采用散射光積分法作為測量原理，同時測量試驗樣品上游和下游的NaCl顆粒濃度并評估收集效率。同時利用微差壓計測量試件的進氣阻力。
記錄和計算部分
通過個人計算機對檢測器進行檢查，并向測量部分發出指令，對試驗片進行測量，計算從測量部分輸入的計數值，并與判斷標準進行比較和評估。將獲得的數據按照規定的格式打印出來并記錄在SD卡或其他設備上，并需要每日報告測量結果和試件歷史記錄。
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