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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>在線測厚儀> 日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試

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日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 成都藤田科技有限公司
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2025/2/21 10:30:49
  • 訪問次數 137

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公司簡介

COMPANY INTRODUCTION

成都藤田科技有限公司經營進出口業務7年有余,位于西南地區四川成都;通過不斷努力、進步與各類日本、部分歐美品牌建立長期穩定的合作關系,覆蓋電子產品、工具、電子元器件、儀器儀表、防靜電設備、輔料、自動化設備、非危險性化工產品、機械設備及配件、通信設備。

成都藤田科技供貨渠道

因為長期良好的經營環境,獲得國內外客戶與商社的喜愛,隨著互聯網的發展建立了專有的網絡模式MRO;

堅持以服務客戶為主的經營理念、追求客戶滿意服務為宗旨、禮貌誠信為原則提供客戶服務,并以成為客戶值得信賴的工業品綜合服務商為目標。

MRO兩種形式

  1. 超市建立工業品專柜,大型超市也會經營部分工業品,但種類和數量有限。

  2. 網上工業品超市,這種形式配送可為客戶大規模找尋產品,使供應商和采購商都實現“進入一個點,得到一大片”連鎖效應,有效降低采購商采購成本。

代理品牌:


代理品牌:

半自動 全自動定制設備。

Epson愛普生(機器人/機械臂)

ATTEN安泰信(焊接產品)

日本日本三鍵ThreeBond(膠水)

日本ESTIC艾斯迪克(擰緊工具)

日本MUSASHI武藏(點膠機)

日本HOYA豪雅(UV固化燈,玻璃鏡片)

日本SIGMAKOKI西格瑪(光學元件、物鏡等)

日本YUMEX優美科思(各種疝氣燈)

日本TOKISANGYO東機產業(粘度計)

日本KANOMAX加野(風速儀)

日本YAMADA雅瑪達(隔膜泵)

日本EPSON愛普生(機械臂)

日本TSUBOSAN壺三(銼刀工具)

韓國DIT東日技研(除靜電產品)

韓國HANIL韓一(攪拌機)

優勢品牌:

日本Otsuka大塚電子(晶圓、覆膜測厚儀)

日本分光JASCO(光譜儀、光度計、色譜儀)

日本FLUORO福樂(用于晶圓的搬運)

日本MITUTOYO三豐(測量器具)

日本AND艾安得(微量電子分析天平)

英國Meech密其(非接觸式除塵系統)

日本SSD西西蒂(防靜電設備)

日本NEW-COSMOS 新宇宙(氣體檢測儀)

YIZOMO一子沫(拉拔機)

日本FURUPLA富如拉(噴壺)

日本PISCO匹士克(氣動元件)

美國MEISEI(熱剝線鉗)

日本TECHNO特古羅(錫爐)

日本AMANO安滿能(除塵設備)

日本MALCOM馬康(粘度計)

日本HOZAN寶山(鑷子、鉗子等工具)

美國SIMCO思美高(防靜電、除塵產品);



成都藤田科技為廣大客戶提供一體化、全面、優質高效服務。





Epson愛普生機器人,安泰信焊錫設備(半自動/全自動),視覺成像,武藏點膠機

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 綜合

日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供

Smart膜厚儀 vs OPTM顯微分光膜厚儀——革新光學測量的雙引擎

核心對比與OPTM優勢

  1. 技術差異化

    • OPTM系列:基于分光干涉法,結合顯微光學系統,實現反射率分析,支持超薄膜(1nm)與復雜多層結構,技術解決透明基板干擾。

    • Smart膜厚儀:側重便攜性與快速篩查,適用于常規單層膜厚測量,但精度與功能擴展性不及OPTM系列。

  2. 應用場景

    • OPTM適用于研發(R&D)與高精度QC,如半導體晶圓、光學濾光片;Smart膜厚儀更適合產線快速抽檢。

  3. 性價比優勢:OPTM以中型設備成本提供媲美橢偏儀的精度,且操作門檻更低,軟件內置NIST校準追溯,確保數據可靠性。



日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試

特長

● 1臺便可實再5個樣品的連續測量

實現了在沒有自動取樣器的情況下難以連續測量的多個樣品

可以改變每個樣品的條件進行測量

● 可以對應從稀薄到濃厚的樣品

● 標準測量時間1分的高度測量

自動調整從濃厚系到稀薄系樣品的測量位置,實現約1分鐘的高速測量

● 配備簡單測量功能(點擊一鍵即可開始測量)

沒有任何復雜的操作,簡單易懂的軟件

● 因為每個樣品槽都是獨立的,沒有接觸污染的風險。

● 搭載溫度梯度功能


測量范圍(理論值)

● 粒徑0.6nm~10μm

● 濃度范圍 0.00001~40%

● 溫度范圍0~90℃*


規格

型號多檢體納米粒徑測量系統
測量原理動態光散射法(光子相關法)
光源高功率半導體激光(660nm、70mW) *1
檢出器高感度APD
連續測量最多5個樣品
測量范圍0.6nm ~ 10μm
濃度范圍0.00001 ~ 40% *2
溫度范圍0 ~ 90℃ (具備溫度梯度功能) *3
樣品容量四面透光比色皿:1.2mL~、微量比色皿:20μL~
尺寸W240 X D480 X   H375 mm
電壓220V 50/60Hz、250VA
重量約18 kg
軟件平均粒徑解析(累積法解析)
粒徑分布解析
(Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法)
粒度分布重疊
逆相關數 殘差Plot
粒徑監測
粒徑表示范圍 (0.1 ~ 106 nm)
分子量計算機能
21 CFR Part11對應*4
選配微量樣品池(20μL開始対應)、熒光濾光片

*1 本設備劃分在激光安全基準(JIS C 6802)的等級內。

*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黃膽酸:~40%

*3 標準glass cell的批量測量的情況。
     一次性cell或連續測量時, 15 ~ 40℃ (不對應溫度梯度)

*4 選配功能


測量示例

不同溶劑的5個樣品連續測量

日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試

溫度梯度機能使用的測定

日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試

可對應寬泛粒徑的范圍的測量

日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試


日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供




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