Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡
| 參考價 | ￥30000000-￥-1 |
- 公司名稱 賽默飛世爾科技（中國）有限公司
- 品牌FEI/賽默飛
- 型號
- 所在地上海市
- 廠商性質生產廠家
- 更新時間2025/1/20 15:54:37
- 訪問次數 275
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欲了解更多信息，請瀏覽公司網站：www.thermofisher.com 賽默飛世爾科技中國簡介賽默飛世爾科技進入中國發展已超過35年，在中國的總部設于上海，并在北京、廣州、香港、成都、沈陽、西安、南京、武漢、昆明等地設立了分公司，員工人數約為5000名。我們的產品主要包括分析儀器、實驗室設備、試劑、耗材和軟件等，提供實驗室綜合解決方案，為各行各業的客戶服務。為了滿足中國市場的需求，現有7家工廠分別在上海、北京、蘇州和廣州等地運營。我們在全國還設立了8個應用開發中心以及示范實驗室，將世界級的前沿技術和產品帶給中國客戶，并提供應用開發與培訓等多項服務；擁位于上海的中國創新中心，擁有有100多位專業研究人員和工程師及70多項專利。創新中心專注于針對垂直市場的產品研究和開發，結合中國市場的需求和國外先進技術，研發適合中國的技術和產品；我們擁有遍布全國的維修服務網點和特別成立的中國技術培訓團隊，在全國有超過2600名專業人員直接為客戶提供服務。我們致力于幫助客戶使世界更健康、更清潔、更安全。
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科學儀器
| 價格區間 | 3000萬-4000萬 | 儀器種類 | 場發射 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工 |
生產合適的材料并做出正確的設計選擇對于解決諸如開發更安全和更持久的電池，創建更輕的材料以提高能效以及構建更快，更高容量的計算機處理器或存儲設備等挑戰至關重要。Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡非常適合需要在原子水平上表征各種材料的學術或工業實驗室的研究人員。它允許他們制造輕質材料，如先進鋼，鋁合金或塑料，用于開發更安全或更省油的運輸。Spectra還支持新半導體結構和材料的研究，為未來的高性能電子器件提供必要的構建模塊。
Spectra S/TEM 掃描透射電子顯微鏡新的檢測功能，使科學家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級數據，以滿足更廣泛的應用需求。該平臺可以獲得極其光束敏感的材料和半導體結構的詳細圖像，包括金屬有機框架，沸石和聚合物，如果暴露在電子束中太長時間或在錯誤的電壓下可能會損壞或破壞。它還滿足了使用EDX（能量分散X射線）或EELS（電子能量損失光譜）等多種方式對大量原子級化學分析的不斷增長的需求。
該平臺包括幾項新功能，使S/TEM顯微鏡更上一層樓，包括：
更高亮度的電子源：特別明亮的冷場發射槍（X-CFEG）是一種提供更高對比度成像的新技術。對于化學分析和X射線分析，它提供的信號是當前一代TEM中傳統CFEG源的兩倍以上，空間分辨率高出10％以上。結果是更高質量的成像和分析以更高的分辨率，允許用戶檢查更廣泛的材料。
更簡單的電氣特性分析：新的X-FEG/Ultimono光源允許研究人員和工程師并行生成復雜的高能量分辨率數據，而不是為此單一目的專用單獨的工具。這有助于加速新材料的開發，因為研究人員將更好地了解與其他關鍵屬性平行的電學行為。
高動態范圍映射：電子顯微鏡像素陣列檢測器（EMPAD）是一種高速像素化STEM檢測器，允許研究人員執行大量高級應用，如Ptychography，用于超高分辨率和信號的用戶分段。這有助于揭示對于新材料和工藝的開發至關重要的更多屬性。
Spectra 300包括三種光源選項：XFEG Mono，X-FEG UltiMono和X-CFEG，專為廣泛的樣品進行原子級成像和分析而設計。Spectra 200提供200 kV X-CFEG，是高對比度成像和化學分析的理想選擇。
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