SENTECH激光橢偏儀SE 500adv
- 公司名稱 天津瑞利光電科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/10/21 14:07:38
- 訪問次數(shù) 296
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光電設備、光學儀器、機電設備及配件、電氣成套設備、工業(yè)自動化控制設備、電子設備、智能設備、通訊設備、儀器儀表、實驗室設備、五金交電、電線電纜、環(huán)保設備、汽車配件、工藝品、辦公用品的銷售；自營和代理貨物及技術的進出口業(yè)務；光電設備安裝、調試及檢修
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,電氣 |
產品名稱：SENTECH激光橢偏儀SE 500adv
產品型號：SE 500adv
產品介紹
SENTECH SE 500adv 可作為激光橢偏儀、膜厚探頭和 CER 橢圓偏振儀使用。因此，它具有標準激光橢偏儀所不具備的靈活性。作為橢偏儀使用時，可進行單角度和多角度測量。作為薄膜厚度探頭使用時，可在正常入射條件下測量透明或弱吸收薄膜的厚度。SE 500adv 中的橢偏儀和反射儀（CER）組合包括橢偏儀光學鏡組、測角儀、組合式反射測量頭和自動準直望遠鏡、樣品平臺、氦氖激光源、激光光檢測單元和光度計。
性能特點
l 準確無誤的厚度測定：將橢偏儀和反射儀結合使用，可通過自動識別循環(huán)厚度周期，快速、準確地測定透明薄膜的厚度。
l 大的測量范圍：激光橢偏儀和反射儀的組合將透明薄膜的厚度范圍擴大到 25 µm 或更多，具體取決于所選的光度計選項。
l 突破激光橢偏儀的限制：多角度手動測角儀具有高的性能和角度精度，可測量單層薄膜和層堆的折射率、消光系數(shù)和薄膜厚度。
技術參數(shù)
產地：德國
波長：632.8 nm HeNe 激光器（< 1mW）
薄膜厚度精度：硅上 100 納米二氧化硅的 0.01 納米
折射率精度偏差：5x10-4（100 nm SiO2 on Si）
透明層的總厚度范圍：max.6 µm
弱吸收層（多晶硅）的總厚度范圍：max.2 µm
默認層數(shù)：層疊或基底上的 1-3 層
測量時間：120 毫秒 ..... 1.5 秒（取決于測量模式）
激光束直徑：1 毫米
入射角：手動測角儀
40° - 90°，以 5° 為單位設置
樣品校準：自動準直望遠鏡 (ACT)，用于調整樣品傾斜度和高度
產品應用
測繪范圍達 200 毫米
用于現(xiàn)場測量的液體電池
攝像機
自動對焦
電動測角儀
SpectraRay 4.0 仿真軟件
經過認證的標準晶片
采購中心
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