ContourX-100 三維光學輪廓儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 瑞科和利（北京）科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 ContourX-100
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/12/27 11:00:07
- 訪問次數(shù) 149
產(chǎn)品標簽
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三維光學輪廓儀 是布魯克的 TriboIndenter 平臺的全面改進，其測量和分析過程的各個方面都采用了旨在消除納米壓痕儀系統(tǒng)常見限制的更新技術。因此，該系統(tǒng)具有更多的可用測量模式 ，并在廣泛的實驗室環(huán)境中提供高精度測量。
快速、可重復的三維計量
與放大倍率無關的業(yè)界Z軸分辨率
大尺寸的標準視場
高穩(wěn)定性和重復性的集成防震設計
測量和分析功能
易于使用的界面，可快速準確地獲得結果
廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析
滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內(nèi)的定制化分析報告
計量功能
ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計量、表征和成像領域超過四十年的專有光學創(chuàng)。該系統(tǒng)結合三維白光干涉和二維成像技術在單次測量中實現(xiàn)多種分析。ContourX-100對于反射率從0.05％到99％的各種表面都非常易于測量。
三維光學輪廓儀 產(chǎn)品優(yōu)勢
用于原位 SPM 成像的雙壓電掃描頭
高分辨率、彩色光學顯微鏡
低噪聲 2D 電容式傳感器
計量級花崗巖框架確保測試穩(wěn)定性
集成主動減振系統(tǒng)
Performech III 控制器
減振底座的抗噪能力提高了 50 倍
多層環(huán)境隔離罩
俯視樣品臺成像
使用 XPM II 超高速納米壓痕進行性能成像
動態(tài)納米壓痕
帶有可定制面板的模塊化外殼
通用樣品夾具
高精度電動/自動化平臺，可測試面積增加 60%
采購中心
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