ContourX-100 三維光學輪廓儀
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- 公司名稱 瑞科和利（北京）科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 ContourX-100
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/12/27 11:00:07
- 訪問次數 150
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三維光學輪廓儀 是布魯克的 TriboIndenter 平臺的全面改進，其測量和分析過程的各個方面都采用了旨在消除納米壓痕儀系統常見限制的更新技術。因此，該系統具有更多的可用測量模式 ，并在廣泛的實驗室環境中提供高精度測量。
快速、可重復的三維計量
與放大倍率無關的業界Z軸分辨率
大尺寸的標準視場
高穩定性和重復性的集成防震設計
測量和分析功能
易于使用的界面，可快速準確地獲得結果
廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析
滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告
計量功能
ContourX-100輪廓儀是布魯克在非接觸表面計量、表征和成像領域超過四十年的專有光學創。該系統結合三維白光干涉和二維成像技術在單次測量中實現多種分析。ContourX-100對于反射率從0.05％到99％的各種表面都非常易于測量。
三維光學輪廓儀 產品優勢
用于原位 SPM 成像的雙壓電掃描頭
高分辨率、彩色光學顯微鏡
低噪聲 2D 電容式傳感器
計量級花崗巖框架確保測試穩定性
集成主動減振系統
Performech III 控制器
減振底座的抗噪能力提高了 50 倍
多層環境隔離罩
俯視樣品臺成像
使用 XPM II 超高速納米壓痕進行性能成像
動態納米壓痕
帶有可定制面板的模塊化外殼
通用樣品夾具
高精度電動/自動化平臺，可測試面積增加 60%
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