下一代探測(cè)器技術(shù)

SilVIR 探測(cè)器結(jié)合了兩項(xiàng)先進(jìn)技術(shù)：硅光電倍增管（SiPM）和我們已獲*快速信號(hào)處理設(shè)計(jì)。作為FV4000和FV4000MPE系統(tǒng)核心突破性探測(cè)器技術(shù)，它可以大大降低噪聲、提高靈敏度和光子分辨能力。

SilVIR探測(cè)器技術(shù)

硅光電倍增管

探測(cè)器的硅光電倍增管由在蓋革模式下運(yùn)行的多像素雪崩光電二極管（APD）組成。它可同時(shí)檢測(cè)到隨機(jī)入射光子，從而在更寬波長和動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)更高的光子檢測(cè)效率。它還能提供定量數(shù)據(jù) - 輸出脈沖的高度精確地顯示了檢測(cè)到的光子數(shù)量。

獲得*快速信號(hào)處理

我們的數(shù)字信號(hào)處理采用集成電路設(shè)計(jì)，在高速模/數(shù)（A/D）轉(zhuǎn)換器中使用了現(xiàn)場可編程門陣列（FPGA）半導(dǎo)體。

SilVIR 探測(cè)器還縮短了SiPM衰減曲線，并能根據(jù)每個(gè)輸出脈沖的高度準(zhǔn)確檢測(cè)光子數(shù)量，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了低于一個(gè)光子的極低噪聲。

功能和性能的結(jié)合

這些技術(shù)的結(jié)合實(shí)現(xiàn)了最高2,000光子/2 µs的線性和高動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)。

在所有波長下的共聚焦成像中，這一探測(cè)器的光子檢測(cè)效率高于傳統(tǒng)使用的高靈敏度GaAsP PMT探測(cè)器。因此，SilVIR探測(cè)器能夠?qū)崿F(xiàn)出色的信噪比（S/N），讓微弱的熒光信號(hào)清晰可見。

由于SilVIR 探測(cè)器基于半導(dǎo)體技術(shù)，因此其靈敏度衰減小，且不同探測(cè)器之間的個(gè)體差異非常小，有助于確保不同用戶在不同時(shí)間內(nèi)獲得可靠、一致的結(jié)果。

即使在微弱熒光下也可獲得高質(zhì)量的圖像

FV4000和FV4000MPE系統(tǒng)捕獲微弱熒光圖像的能力超越了上一代激光掃描系統(tǒng)。

與傳統(tǒng)的GaAsP-PMT探測(cè)器相比，SilVIR 探測(cè)器在紫光到近紅外波長范圍內(nèi)噪聲更低，能夠更有效地探測(cè)到光子，從而可提供質(zhì)量更好的圖像，尤其是在捕獲微弱熒光時(shí)。無需調(diào)整偏移量，即可拍攝到背景干凈、信號(hào)明亮的熒光圖像。更高的靈敏度意味著所需的激光功率更低，從而減少了樣品的光損傷。與我們的共振掃描單元結(jié)合使用時(shí)，您可以在更短的時(shí)間內(nèi)獲得高質(zhì)量、快幀率的圖像。

改變游戲規(guī)則的圖像定量

SilVIR 探測(cè)器技術(shù)能夠精確量化圖像強(qiáng)度，從而提供了更可靠的數(shù)據(jù)。成像數(shù)據(jù)輸出為光子數(shù)，提供了每幅圖像熒光強(qiáng)度的絕對(duì)值。即使在高強(qiáng)度水平下，更寬的動(dòng)態(tài)范圍也能通過光子數(shù)準(zhǔn)確地量化熒光強(qiáng)度。

體驗(yàn)熒光的全動(dòng)態(tài)范圍

得益于SilVIR 探測(cè)器的高動(dòng)態(tài)范圍，F(xiàn)V4000和FV4000MPE顯微鏡無需在暗淡和明亮的熒光區(qū)域間做取舍，而是可以同時(shí)采集，不會(huì)出現(xiàn)信號(hào)飽和或弱信號(hào)丟失。這樣就能以更少的工作量進(jìn)行準(zhǔn)確的圖像分析和處理。

直觀的用戶界面和工作流程

傳統(tǒng)用于共聚焦成像的光電倍增管不僅需要根據(jù)樣品的亮度水平進(jìn)行電壓調(diào)整，還要調(diào)整偏移量以降低背景噪聲。要進(jìn)行這類調(diào)整，需要具備專業(yè)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)，才能獲得高質(zhì)量的共聚焦圖像。

SilVIR 探測(cè)器的電壓在出廠時(shí)已針對(duì)靈敏度和低噪聲進(jìn)行了優(yōu)化，因此您無需對(duì)電壓和偏移進(jìn)行任何調(diào)整 - 您只需調(diào)整激光功率即可達(dá)到一定的光子數(shù)。由于信噪比（S/N）與光子數(shù)成正比，因此只要保持光子數(shù)不變，就能保持穩(wěn)定的圖像質(zhì)量。