360°實時調整功能允許同時垂直和水平調整您的機器，XT770 軸對中工具可以執行各種類型的幾何測量，包括直線度、平面度測量、正方形、平行測量等，為您提供一體式完整的激光器測量系統！

高配置激光對中儀EASY-LASER XT770功能：

1、時鐘法對中（在水平和垂直位置采集數據，計算對中結果）
2、三點法對中（從任意點開始，按照機器正常轉動方向旋轉，并可于任意點結束測量）
3、連續掃描法對中（在一定角度范圍內，連續掃描并采集大量數據點，構建zhui優對中橢圓，提高測量的重復性和準確度，通過儀器內置的計算方法，得出對中數據）
4、經過測量法對中（在無法將原動機與被驅動機進行連接，同步盤車作業的情況下，儀器可以自動記錄非同步盤車時，兩個傳感器在相同角度時的坐標值）
5、任意位置調整：傳感器處于360°的任意位置時，無需轉動機器便可同時觀察水平和垂直測量結果
6、實時監測功能：儀器可以實時監測運轉機器的垂直和水平方向的位移變化趨勢
7、尺寸修改：測量過程中可隨時更改機器尺寸值，以得到不同的測量結果
8、熱膨脹補償：對有熱膨脹的設備，要求儀器可以進行對中熱膨脹補償
9、萬向軸對中：針對萬向軸聯接的設備，儀器也可以進行對中計算
10、百分表測量模式：儀器可以將對中結果以百分表的形式顯示出來
11、軟腳測試、診斷和調整
12、固定地腳：在激光對中儀內任意zhi定某幾個地腳為固定地腳后，操作者能自動得到其它地腳的調整量
13、機組對中：可實現至少3臺機器的機組對中。通過對機組對中情況的一覽，使操作者可得知機組全局對中狀況，配合使用固定地腳功能和在線跟蹤調整功能，可以優化機器地腳的調整量，從而得到合理的調整值。
14、對中測量結果以圖形化的方式顯示，使測量者對機器狀態一目了然
15、可擴展性：儀器在未來可以通過內部固件的升級和配合其他特殊支架，能完成諸如孔系對中、平面度測量、直線度測量等功能，wan全涵蓋激光對中的所有應用場合。
16、數據恢復功能：儀器可在測量過程中發生意外的情況下將結果自動保存，避免數據丟失。

             1.輸入尺寸                                      2.測量（有五種方法可供選擇，詳情如右所示）

   3.在“原始數據”中查看結果       4.調整                 5. 查看報告內容

更多托展功能

立式/法蘭安裝機器                                        機器底座的扭曲度測量 測量平面度/扭曲度的程序，例如， 機器基礎，機器工作臺等。

機組找正 您可以手動 選擇參考機器，或者讓程序選擇一個可以 最大限度減少調整需求的機器。  平面度測量：檢查基礎 和框架的平整度，每排 2 到 8 個點。

直線度：測量長軸、軋輥、軸承軸頸、底座、 高架軌道、機器結構等。       功 能和千分表的功能相當，用于檢查軸承 松動和載荷。

您將能夠得到 水平和垂直對中的結果，結果以圖形和 數字的方式顯示。

A.PSD測量窗口

B.激光發射孔

C.激光角度調節

D.OLED顯示：電池狀態/裝置角度

E.鏈條收緊旋鈕 點陣式激光技術 與線激光系統相比，點激光技術使其能 夠測量大型設備（需要重力盤車或高空盤 車的設備）和長軸距的設備。聯軸器中存 在齒隙時，它還能提供更高的精準度。此 外，利用點激光，還可以在安裝機器時進行更多的 檢查，如檢查基礎的扭曲度和軸承間隙。通過2軸 PSD，您可以讀出并記錄垂直和水平方向的數值。 雙激光器、PSD、傾角儀 兩個測量單元都有電子傾角儀，更能精準、快速的 完成激光對中儀的初步調整。雙激光束和雙PSD 的反向測量方法，使得它也可以測量未正確設置 的機器。非常適用于新設備的安裝，與其他方法相 比，雙重技術在距離增加時也能保持測量的準確性。 多種支架

F.充電接口

G.可伸縮的不銹鋼安裝桿

H.鎖定旋鈕

I. 可滑動的目標/防塵罩

A.偏移支架，2件

B. 磁性支架*

C. 磁鐵底座，2件

D. 滑動支架，部件編號：12-1010*

E. 薄軸支架，寬度12毫米[0.5”]，部件編 號：12-1012*

F. DM支架。用于動態測量。帶有2個支架的完整套件，部件編號：12-1130*

G. 萬向節支架套件，部件編號：12-1151*（注意：圖片上未顯示所有部件。）

360° 旋轉的激光頭。數字式精確水平儀確保了精確度，不會受到用戶個人解讀或可能的環境照明 惡劣條件的影響。連接到XT對中應用后，您可以參 照屏幕上的指導對電子水平儀進行校準。這使得對 平面度測量經驗不足的用戶也能輕松操作。當然， 您也可以用物體作為參照物進行測量，而不必使用 水平儀。直線度和平面度程序也會指導您，為您進 行復雜的最佳匹配計算。事實上，通過數值程序，您 幾乎可以進行任何種類的幾何測量