大型高壓加速老化試驗箱廣泛應用于半導體、顯示面板、PCB、電子元器件等多個領域的環(huán)境可靠性測試。EHS系列提供了高可用性和多種性，以滿足 IEC60068-2-66標準，具有方便的功能和可用于偏壓測試的安全特性。適合大型試樣或大量小型試樣的試驗的大容量產(chǎn)品。

    具備利用常規(guī)測試數(shù)據(jù)的控制功能,M/MD型有「干濕球溫度控制」、「不飽和控制」、「濕潤飽和控制」等三種模式。標準型具備有「不飽和控制」、「濕潤飽和控制」等兩種模式。

    高壓加速老化試驗箱EHS系列采用獨自開發(fā)的干濕球溫度控制功能,滿足IEC60068-2-66規(guī)定的試驗裝置條件，可以進行規(guī)定的試驗。此外,EHS系列還滿足以下標準：

●IEC 60749-4（高加速應力試驗）

●ED-4701/100A(不飽和蒸汽加壓試驗)

●JESD22-A118（無偏壓高加速應力試驗）

●JESD22-A110E（高加速應力試驗）

●JESD22-A102E（無偏壓高壓蒸煮試驗）

●AEC-Q100 -版本H（偏壓高加速應力試驗 /無偏壓高加速應力試驗）

●JPCA-ET08（不飽和加壓蒸汽試驗）

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