Compact WIL 瑞士丹青進口白光干涉微觀形貌粗糙度儀
- 公司名稱 德瑞華測量技術(shù)（蘇州）有限公司
- 品牌 瑞士丹青dantsin
- 型號 Compact WIL
- 產(chǎn)地 江蘇
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/4/24 16:06:54
- 訪問次數(shù) 783
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數(shù)顯量具，測高儀，三坐標，關(guān)節(jié)臂，軸類檢查儀，粗糙度儀，仿形膠泥，檢漏儀，測長機，螺紋綜合測量機，球徑測量儀，表類檢查儀，激光平面度測量機，垂直度儀，直線度檢查儀，精密轉(zhuǎn)臺，輪廓粗糙度儀，三維缸體檢測儀，測量儀，輪廓投影儀，刀具測量儀，測量機，硬度計，金相
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件 |
|---|---|---|---|
| 測量技術(shù) | 白光干涉 | 掃描范圍 | 400μm |
| 電源 | 100 to 240 VAC, 50/60 Hz | 測量陣列 | 1936 x 1216測量點 |
| 外尺寸測量范圍 | 0.1-1000mm | 內(nèi)尺寸測量范圍 | 40-1040mm |
瑞士丹青進口白光干涉微觀形貌粗糙度儀
瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學測量技術(shù)，其分辨率高達納米級。測量點平行采集和處理，大面積的高度信息可以在很短時間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過程中的典型應(yīng)用有：物體表面的不同粗糙度特性（晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等）、確定高度變化以及曲面的精密測量（如微透鏡等）。
WLI白光干涉?zhèn)鞲衅魈攸c：
直接3D測量 非?？焖?高精度，分辨率0.1nm 2.5x~100x干涉鏡頭 50x以上干涉鏡頭用于高反射表面 集成拼接功能 測量范圍最大400µm 適用于所有材料 高速壓電陶瓷Z軸 2百萬或5百萬像素攝像頭(根據(jù)測量需求配置) Trimos提供基于WLI技術(shù)的優(yōu)良解決方案并通過 Trimos Nanoware測量軟件對整個測量過程進行控制和分析。 Trimos在本領(lǐng)域進行了廣泛的研究并積累了豐富的經(jīng)驗，因而能提供高效、穩(wěn)定、精確的分析算法。
瑞士丹青進口白光干涉微觀形貌粗糙度儀
瑞士丹青TR-SCAN微觀形貌光學粗糙度測量儀，廣泛應(yīng)用于高精密微觀表面檢查。與傳統(tǒng)非接觸測量技術(shù)相比，測量速度快，對振動不敏感，實現(xiàn)三維形貌納米級測量。模塊化的設(shè)計理念，可配置色譜共焦傳感器，白光干涉?zhèn)鞲衅?。傳感器直接更換，方便快捷，滿足不同的應(yīng)用領(lǐng)域。即可用于計量單位和材料科學研發(fā)實驗室，也廣泛應(yīng)用在工業(yè)制造領(lǐng)域：汽車、航天、航空、表面涂層、醫(yī)療產(chǎn)品、微型電機系統(tǒng)、半導體等行業(yè)。
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