SURTRONIC S116泰勒霍普森
- 公司名稱 無錫駿展儀器有限責任公司
- 品牌 TaylorHobson/英國泰勒霍普森
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/3/12 16:04:41
- 訪問次數 779
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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,生物產業,制藥/生物制藥,綜合 |
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SURTRONIC S116泰勒霍普森
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116技術指標：
測量范圍：200um100um10um
分辨率：100nm20nm10nm
底噪(Ra)：250nm150nm100nm
重復精度(Ra)：1%測試值+底噪
傳感器原：電感
測量力：150-300mg
測針針尖半徑：標配5μm(200μin)可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
測試方式：滑動掃描
泰勒霍普森粗糙度儀校準：
自動軟件校準標準：ISO4287
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116測試參數：
無錫駿展儀器供應泰勒霍普森粗糙度儀三個取樣長度：0.25mm、0.8mm、2.5mm
無錫駿展儀器供應泰勒霍普森粗糙度儀二個濾波器：2CR、Gaussian
無錫駿展儀器供應泰勒霍普森粗糙度儀評定長度：0.25mm-12.5mm(0.01in-0.49in)可選
大行程：17.5mm
測試速度：
測試速度：1mm/sec(0.04in/sec)
回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)
測試參數：
執行標準：ISO4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1,JIS0601,N31007
ISO標準可以測量12個參數：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,Rpc,RSm,Rz1max
ASME標準可以測量11個參數：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rdq,RSm,Rpm,Rda
JIS標準可以測量14個參數：Ra,Rv,Rp,Rz,Rt,Rq,Rsk,Rmr,Rdq,RSm,RzJIS,Rc,Rku,Rdc
其他：R3z(DaimlerBenz)
測試單位：um/uin
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