ThermoTST ATC860接觸式高低溫沖擊機

ThermoTST ATC860通過測試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫或者結溫)調整到目標溫度點進行相應的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。

集成電路IC芯片溫度沖擊測試機 接觸式沖擊

ThermoTST ATC840是一臺精密的接觸式高低溫沖擊機，具有更廣泛的溫度范圍-45℃到+200℃，提供了很強的溫度轉換測試能力。

集成電路IC芯片溫度沖擊測試機 接觸式沖擊

ThermoTST ATC840通過測試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫或者結溫)調整到目標溫度點進行相應的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。

特點

有效溫度范圍，-45℃至+200℃

溫度穩定性±0.5℃

觸摸屏操作，人機交互界面

支持DUT溫度控制

桌面設計，低噪音、低震動、低環境散熱

溫度波動小

低溫環境測試無冷凝

應用

適用于IC特性、測試和失效分析：

ATE, SLT和工作臺

高低溫測試箱/低溫冷卻機代換

OEM集成