泰勒霍普森代理粗糙度儀SURTRONIC DUO

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度儀是一種便攜式、車間用工具，用于快速測量表面粗糙度。這種電池驅動的裝置可以作為小型入門級儀器，也可以作為具有多功能檢測機構生產工具。它測量生產過程控制檢測常用的兩個參數Ra和Rz。

英國泰勒公司 SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度儀為英國泰勒公司推出的新款便攜式表面粗糙度儀。SURTRONIC DUO 粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，可以在一米外遙控操作；其設計可滿足不同的技術與工作環境要求，通用貨號訂貨編號：112-3115。大量程粗糙度儀（Ra）： 大值40μm（1600μin）（Rz、Rv、Rp、Rt）：大值199μm（7800μin）

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度儀為英國泰勒公司推出的新款便攜式表面粗糙度儀。DUO通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設計可滿足不同的技術與工作環境要求。

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度儀特點：

快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

攜帶方便DUO可應用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。

經外接口 操作者可在距離被測工件1m處操作測量。

校準方便DUO具有自身校準標準，可預設標準值，通過LCD顯示出來。

測針保護不用時，設“park”位置可全面保護測針。

人體工程學設計

SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術指標：

Ra(算術平均偏差，以前稱為CLA或AA)

Rz(平均峰谷高度)

Rv(采樣長度內輪廓線以下的大高度)

Rp(采樣長度內輪廓線以上的大高度)

Rt(剖面大峰谷高度)

Rz1max(任何采樣長度內的大峰到谷)

偏度-關于平均線的輪廓對稱度的測量

Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))

Rku(峰度-表面輪廓銳度的測量)