Helios 5 EXL DualBeam 聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于半導體工業的 FIB-SEM TEM 樣品制備，可實現全晶圓分析。

對高性能、高能效電子設備的需求正在推動開發體積更小、特征更密集且具有復雜 3D 結構的先進器件。這些的微處理器、存儲器件和其他產品的增量生產挑戰性，需要對埋藏在器件深處的特征進行高分辨率、原子級分析。透射電子顯微鏡 (TEM) 日益成為這種分析的技術，并依賴于通過聚焦離子束 (FIB) 研磨生產的高質量樣品。

Helios 5 EXL DualBeam 聚焦離子束掃描電子顯微鏡主要特點：

自動 TEM 樣品制備軟件

Thermo Scientific AutoTEM 5 軟件將晶圓和缺陷導航與配方定義和執行結合在一個集成的程序中，確保具有不同專業水平的操作員之間的效率和一致性。AutoTEM 軟件簡化了 TEM 樣品制備，使用戶能夠輕松地安排多站點作業，實現倒置、俯視和自上而下的 TEM 樣品制備工作流程。

用于先進的樣品制備的精密 FIB 研磨

Helios 5 EXL DualBeam 包括 Thermo Scientific Phoenix 離子柱，提供革命性的低電壓性能和的 TEM 樣品制備。

自動樣品操作和提升

通過采用直觀的方法將 TEM 樣品提離并轉移到柵格中，Thermo Scientific EasyLift 納米操縱器可提供低漂移、高精度運動，可簡單一致地創建傳統或超薄 TEM 片晶。高精度、易用和快速電動旋轉使 EasyLift 納米操縱器非常適合高速倒置或俯視樣品制備。

可重復、自動沉積和刻蝕

Thermo Scientific MultiChem 氣體輸送系統專為支持自動化 TEM 制備而開發，具有高度一致的沉積和刻蝕能力，可用于自動化應用。具有保存位置預設的電動進樣針可精確定位，以優化向樣品表面的可重現氣體輸送。MultiChem 氣體輸送系統的設計還具有適用性，可極大延長工具正常運行時間。

自動對齊、高分辨率和一致的結果

高性能 Thermo Scientific Elstar 電子柱采用我們的 UC 單色技術，提供更高的分辨率和 TEM 樣品端點定位。新的 SEM 自動對齊確保多個工具和操作員的結果一致。

FAB 兼容自動化 FOUP 上樣器 (AFL) 選項

可選的自動化 FOUP 上樣器 (AFL) 使 Helios 5 EXL DualBeam 能夠位于半導體晶片晶圓廠中。通過更接近晶片工藝線（近線），可提供比基于實驗室的裂解晶片分析快三倍的關鍵信息，從而加速新工藝的開發并實現大批量生產的良率提升。