bunkoukeiki顯微成像光譜儀CLP-50

bunkoukeiki顯微成像光譜儀CLP-50

(1) 過濾器手動切換支架（手動滑動式，最多可安裝6個過濾器）

(2) 入射狹縫千分尺（狹縫顯示，最小刻度10μm，寬度0～4mm可變）

(3) V型孔徑（最小刻度1mm，入射狹縫高度1-20mm可變）

④ 波長計數器刻度盤

(5) 光譜儀上蓋

⑥出口狹縫千分尺（狹縫顯示，最小刻度10μm，寬度0～4mm可變）

⑦ 千分表條

波長顯示由波長刻度盤（3位）和位于刻度盤右側的波長顯示刻度盤籠條（ 1μm或更多位）組成。

如果千分表條在機身內部，請按原樣讀取千分表顯示。

（例：500→500nm ）

如果千分表棒從主體突出，則計數器的讀數增加1000 。

* 圖中顯示為直讀1200線/mm衍射光柵。600行雙讀，300行四讀，150行八讀。

特征

• 分辨率為1.0nm（1200線/mm），波長精度為±1.0nm，在同類產品中性能最佳。

• 由于衍射光柵可以更換，因此可以在200nm到25μm的寬波長范圍內使用，更換安裝的再現性也很好。

• 采用大有效面積的衍射光柵，光學系統在F=3.0時亮度高，像差小。

• 機構和操作簡單而堅固，因此耐沖擊和振動，狹縫機構幾乎沒有反沖，因此可以進行高精度測量。

• 由于入射狹縫和出射狹縫配置在相反的兩側，因此很容易組合其他光學系統和特殊附件，并且可以創建滿足預期用途的分光系統。

• 通過安裝步進電機波長驅動器（選項），可以使用外部脈沖信號或 GP-IB 進行控制。

• 由于同步發射波長范圍較寬，可以安裝多通道檢測器（選件）。

• 小巧輕便，不占用大量安裝空間。它也很容易攜帶。