韓國XRF-2020測厚儀X-RAY膜厚儀

規(guī)格型號如下圖所示

產(chǎn)品如下圖所示

XRF-2000測厚儀韓國先鋒膜厚儀

先鋒X射線鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀測量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

儀器規(guī)格

XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg

儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點(diǎn)自動測量

多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動切換

微先鋒測厚儀XRF-2020操作方法

Microp XRF-2020L型-H型-PCB型

1． 儀器及附件均處開機(jī)狀態(tài)（電腦，顯示器）

2． 在程序庫中選中與產(chǎn)品對應(yīng)的曲線（產(chǎn)品需與曲線一致）

3．  打開儀器前蓋，臺面自動伸出

4．  將樣品放入儀器臺面，測量大致位置對準(zhǔn)儀器紅外對焦點(diǎn)

5．  關(guān)閉儀器前蓋，儀器臺面自動歸位

6．  在顯示器屏幕中用鼠標(biāo)控制儀器臺面微調(diào)，精確對準(zhǔn)測試位置

7．  點(diǎn)擊SART測試：

8．  測試過程中X-RAY指示燈亮紅，此時(shí)嚴(yán)禁打開儀器前蓋。

9．  測試時(shí)間15秒主窗口及數(shù)據(jù)表中顯示測試產(chǎn)品厚度

10． X-RAY指示燈熄滅，打開儀器前蓋，臺面自動伸出

11． 取出樣品，完成測試

韓國Microp XRF-2020測厚儀

快速無損測量

鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！

XRF-2000測厚儀韓國先鋒膜厚儀