Agilent安捷倫N8973A噪聲系數(shù)分析儀
- 公司名稱 深圳市超利電子科技有限公司
- 品牌 Agilent/安捷倫
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2022/9/29 10:56:19
- 訪問次數(shù) 344
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二手頻譜分析儀,信號(hào)源,網(wǎng)絡(luò)分析儀,示波器,無線電綜合測試儀,音頻分析儀,噪聲系數(shù)分析儀,WIFI測試儀,手機(jī)綜合測試儀,EMI測試儀,天饋線分析儀,功率計(jì),頻率計(jì),校準(zhǔn)件,函數(shù)信號(hào)發(fā)生器,電源,GPIB卡,萬用表,衰減器等測試儀器
保修期限 | 6個(gè)月 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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產(chǎn)品成色 | 9成新 | 出廠年份 | 2006 |
使用年限 | 7年以上 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天,汽車及零部件,綜合 |
噪聲系數(shù)分析儀 | N8973A |
N8973A
Agilent | N8973A 噪聲系數(shù)測試儀|安捷倫|噪聲系數(shù)分析儀|10MHz至3GHz
品牌:美國安捷倫 Agilent | 美國惠普 HP
詳細(xì)介紹
簡便的測量設(shè)置
低的儀器不確定度
用彩色圖形顯示噪聲系統(tǒng)和增益頻率變化的關(guān)系曲線
加強(qiáng)了與PC機(jī)和打印機(jī)的連通性
能與Agilent346和347噪聲源配用
能經(jīng)軟盤調(diào)入儲(chǔ)存噪聲源的超噪聲比(ENR數(shù)據(jù))
能經(jīng)第二個(gè)專用GPIB對本振進(jìn)行控制
靈活而直觀的用戶界面
新推出的NFA系列噪聲系數(shù)分析儀上的用戶界面既直觀又便于使用,所用按鍵按順序和功能相互分類排列,因而易于查找。專用功能的層數(shù)被盡可能削減,并在屏幕上提供顯示儀器當(dāng)前狀態(tài)的清晰視覺指示。
如今,NFA系列噪聲系數(shù)分析儀設(shè)法用其簡單但富有啟發(fā)性的菜單來取代復(fù)雜的測量設(shè)置。內(nèi)置幫助按鍵可以提供關(guān)鍵功能和遠(yuǎn)程編程命令,從而在進(jìn)行測量時(shí)無需攜帶操作手冊。
常用型號(hào):
頻譜分析儀或頻譜儀
1、按頻率分類:
3G頻譜儀:HP8594E,HP8560E,Agilent E4402B,Agilent E4403B,Agilent N9320A,Agilent N9320B,Agilent N9020A,advantest R3131A,advantest U3741,R&S fsp3,R&S FSL3,R&S FSV3,R&S FSU3
6-8G頻譜儀:HP8595E,HP8561E,Agilent E4404B,Agilent N9020A,Agilent N9010A,advantest R3265,advantest R3267,R&S FSV7,R&S FSP7,R&S FSU8
10G頻譜儀:HP8596E,HP8562E,Agilent E4405B,R&S fsp13,R&S FSV13
高頻頻譜儀:HP8593E,HP8563E,Agilent E4407B,Agilent E4408B,Agilent E4407B,Agilent N9010B,Agilent N9020B,Agilent N9030B,Agilent N9040B,R&S FSW26,R&S FSW67,R&S FSW85,R&S FSW50,R&S FSUP50
低的儀器不確定度
進(jìn)行噪聲系數(shù)測量時(shí),應(yīng)當(dāng)知道的一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)是測量的不確定度。NFA系列噪聲系數(shù)測試儀具有低的儀器不確定度,這有助于制造商對元件進(jìn)行精確、重復(fù)的測量。此外,為了幫助用戶規(guī)定其元件和系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo),Agilent公司還生產(chǎn)了一種基于網(wǎng)絡(luò)的不確定度計(jì)算器,可以向用戶提供對他們的測量指標(biāo)如何改善和更準(zhǔn)確地進(jìn)行分類的信息。 提高批量測量的效率
在制造環(huán)境中,快速測量和重復(fù)性是決定性的因素。目前,NFA系列噪聲系數(shù)分析儀具有許多能縮短測量時(shí)間和提高批量測量效率的特點(diǎn)。頻率列表功能能使您在進(jìn)行測量的整個(gè)測量頻率間隔內(nèi)選擇一些特殊的頻率點(diǎn)。掃描取平均功能能夠在掃描期間伴隨著對被測件性能的調(diào)整對屏幕進(jìn)行實(shí)時(shí)更新,這兩種功能以及進(jìn)行快速、方便合格/不合格測試的極限線功能和調(diào)用全面已校儀器狀態(tài)的附加功能都能提高批量測量的效率。