CHY-C2 數(shù)顯硅片薄膜厚度儀
| 參考價(jià) | ￥ 1000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 濟(jì)南新準(zhǔn)儀器設(shè)備有限公司
- 品牌 新準(zhǔn)儀器
- 型號(hào) CHY-C2
- 產(chǎn)地 濟(jì)南
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/6/12 17:19:28
- 訪問次數(shù) 1022
晶圓測(cè)厚儀半導(dǎo)體硅片厚度測(cè)量?jī)x硅片測(cè)厚儀晶圓厚度檢測(cè)儀硅片厚度檢測(cè)儀
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密封測(cè)試儀 拉力試驗(yàn)機(jī) 薄膜測(cè)厚儀 摩擦系數(shù)測(cè)試儀 膠帶剝離試驗(yàn)機(jī) 紙板邊壓試驗(yàn)機(jī) 紙板破裂強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī) 紙箱抗壓試驗(yàn)機(jī) 紙箱跌落試驗(yàn)機(jī)
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品/農(nóng)產(chǎn)品,石油,能源,電子/電池 |
CHY-C2數(shù)顯硅片薄膜厚度儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格按照GB/T 6618標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于8英寸/12英寸晶圓板、硅片厚度精確測(cè)量，同時(shí)也滿足塑料薄膜、無紡布、銅箔、金屬鍍層、薄片、隔膜、紙張、箔片等材料的厚度測(cè)量。
數(shù)顯硅片薄膜厚度儀 技術(shù)特征
l 搭載7寸IPS觸控屏，采用進(jìn)口MEAS差動(dòng)電感式位移傳感器分辨率0.1um.
l 測(cè)試過程按用戶設(shè)定程序，測(cè)量頭自動(dòng)升降測(cè)量，測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)打印
l 支持同組數(shù)據(jù)100個(gè)測(cè)量點(diǎn)數(shù)據(jù)采集，支持500組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)/查詢
l 支持多級(jí)用戶權(quán)限管理，測(cè)試數(shù)據(jù)歷史記錄可查詢，可審計(jì)追蹤。
l 實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的zuida值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
l 配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的精度和數(shù)據(jù)一致性
l 可選配自動(dòng)進(jìn)樣裝置，實(shí)現(xiàn)無人工操作，系統(tǒng)全自動(dòng)測(cè)量
l 配備USB接口，專業(yè)測(cè)控軟件、可通過軟件操控儀器完成各項(xiàng)測(cè)量
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 該設(shè)備滿足多項(xiàng)國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6618-2009、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817、GB/T 24218.2
技術(shù)指標(biāo)
測(cè)試范圍 ：0～2 mm（常規(guī)） 0～6 mm（可選）
分辨率 ：0.1 μm
臺(tái)面有效尺寸：340mm*480mm
接觸面積 ：1.77 mm2（標(biāo)配）
測(cè)量頭直徑：1.5mm（標(biāo)配）注：非標(biāo)可定制
電源： AC 220V 50Hz
外形尺寸： 630 mm(L)× 340 mm(W)×350 mm(H)
凈重： 35 kg
產(chǎn)品配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件、專業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭
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