推拉力測試機是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態(tài)測試儀器，具有測試動作迅速、準確、適用面廣的特點。適用于半導體IC封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試、TO封裝測試，IGBT功率模塊封裝測試，PCBA電子組裝測試、汽車電子、航天、JUN工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領域以及各類院校教學和研究。

測試參數(shù):

設備型號：LB-8600

外型尺寸：680*580*710(含左右搖桿)

設備重量：95KG

電源供應：110V/220V@4.0A  50/60HZ

壓縮空氣：4.5-6Bar

真空輸出：500mm Hg

控制電腦：聯(lián)想PC

軟件運行：Windows7/Windows10

顯微鏡：標配雙目連續(xù)變倍顯微鏡（選配三目顯微鏡）

傳感器更換方式：自動切換

平臺治具：360度旋轉，平臺可共用各種測試治具

XY軸有效行程：100*100mm

Z軸有效行程：80mm

XY軸分辯率：±1um   Z軸分辯率±1um

傳感器精度：傳感器精度±0.003％；綜合測試精度±0.25％