SHK-A191半導體測試儀器1

可執行芯片推拉力和剪切力測試應用。可配置為簡單焊線拉力測試儀，也可升級進行錫球剪切力、晶粒剪切力、凸塊拉力、矢量拉力或鑷鉗拉力測試是用于微電子封裝和pcba電子組裝制造及其失效分析領域的專用動態測試儀器，是國內的微電子和電子制造領域的重要儀器設備。該設備測試動作迅速、準確、適用面廣、測試精度高，適用于半導體ic封裝測試、led封裝測試、光電子器件封裝測試、pcba電子組

裝測試、汽車電子、航空航天、軍工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析以及各類院校教學和研究領域。

檢卓儀器SHK-A191推拉力測試機 剪切力焊接強度測試儀廣泛應于與LED封裝測試、IC半導體封裝測試、TO封裝測試、IGBT功率模塊封裝測試、光電子元器件封裝測試、汽車領域、航天航空領域、軍工產品測試、研究機構的測試、微電子行業測試及各類院校的測試研究等應用。公司產品有：半導體推力測試儀,半導體推拉力儀器,LED推拉力測試機,LED推拉力測試機,拉伸試驗機,自動推拉力測試機,自動推拉力測試機,半導體芯片封裝檢測設備

主要技術參數：

推拉力測試機產品優勢：

1、電腦自動選取合適的推拉刀，無需人手更換

2、采用進口傳動部件結合*力學算法，確保機臺運行穩定性及測試精度。

3、多功能四軸自動控制運動平臺，采用進口傳動部件，確保機臺的高速、長久穩定運行。

4、旋轉盤內置三個不同量程測試傳感器，滿足不同測試需求，避免因人員誤操作帶來的設備損壞。

5、優異的可操控性，左右雙搖桿控制器，可自由擺放手感舒適，操作簡單便捷。

6、 強大分析軟件進行統計、破斷分析、QC報表，測試數據實時保存與導出，方便快捷。

7、機載統計數據按照等級，平均值，標準差和CPK分布曲線顯示測試結果。

8、弧線形設計便于調整顯微鏡支架。

9、顯微鏡光源為雙光纖LED，冷光源，不發熱，可隨意彎曲。

10、XY平臺，可以根據要求定制，滿足更廣泛的測試范圍。

11、圖像采集系統，快速簡單的設置，安裝在靠近測試頭位置，以便幫助更快地測試。提高測試自動化速度。

推拉力測試機設備特征：

1、采用測試工位自動模式，在軟件選擇測試工位后，系統自動到達對應工作位。

2、每項傳感器采用獨立防碰撞及過力保護系統。

3、三個工作傳感器,采用獨立采集系統,保證測試精度。

4、軟件自動生成報告及存儲功能，支持MES系統。

5、荷重單位顯示N、Ib、gf、kgf可自由切換。

6、人性化的操作界面,人員操作方便。

7、每項測試工作采用獨立安全限位及限速功能。

8、智能數據分析軟件，自動記錄并計算多點測試數據的Cpk值，可記錄單點測試的力值、時間曲線。

9、根據客戶測試需求，非標定制各種測試夾具，有效確保用戶測試數據的真實性。

推拉力測試機主要功能：

1、引線與晶片電極及框架粘接度拉力測試。

2、焊點與晶片電極粘接力推力測試;焊點與框架表面粘接力推力測試。

3、晶片與支架表面粘接力推力測試。

4、配備電腦可實時顯示拉力曲線。

5、模組采用動態傳感器及高速力值采集系統。

6、設備平面可滿足各種治具的靈活切換。

推拉力測試機參考標準：

冷/熱焊凸塊拉力 -JEITA EIAJ ET-7407/IPC-9708

BGA凸點剪切 -JEDEC JESD22-B117A

冷焊凸塊拉力 -JEDEC JESD22-B115

金球剪切 -JEDEC JESD22-B116

球焊剪切 -ASTM F1269

引線拉力 -DT/NDT MIL STD 883

芯片剪切 -MIL STD 883

立柱拉力 -MIL STD 883

倒裝焊拉力 -JEDEC JESD22-B109

集成電路倒裝焊試驗方法 GB∕T 35005-20181.1、推力測試：通過左右搖桿將測試頭移動至所測試產品后上方，按測試后，Z 軸自動向下移動，當測試針頭觸至測試基板表面后，Z 向觸發信號啟動，停止下降，Z 軸向上升至設定的剪切高度后停止。Y 軸按軟件設定參數移動，當移動完成設定距離參數后，設備停止運動，軟件將測試過程中的受力過程以曲線方式顯示，同時將過程中峰值力值進行數據分析后顯示并保存。

2、拉力測試：通過左右搖桿將拉力測試頭 移動至測試物體按測試后，Z 軸自動向上移動，當移動完成設

定距離參數后，設備停止運動，軟件將測試過程中的受力分布以曲線方式顯示，同時將過程中峰值力值進行數據分析后顯示并保存。