Exicor® PV-Si 應力雙折射檢測

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 北京昊然偉業光電科技有限公司
品牌 Hinds Instruments
型號 Exicor® PV-Si
產地
廠商性質 代理商
更新時間 2025/3/12 10:06:10
訪問次數 3426

產品標簽

應力雙折射檢測 hinds instruments 應力儀應力測量應力檢測

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北京昊然偉業光電科技有限公司成立于 2010 年，專業代理歐美（德國、瑞士、美國、波蘭等）高精度的光學檢測設備，致力于為科研和工業客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內的服務。主要包括：

光學檢測產品：應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調相位延遲波片等；

激光檢測產品：激光功率計、能量計及光束質量分析儀等；

集成系統所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉換器等

顯微系統所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。

值得一提的是，近年來公司科研團隊自主研發PCI弱吸收測量儀，CRD光腔衰蕩法高反測量儀，偏心曲率測量儀等產品，為今后的發展壯大奠定了堅實的基礎。

展開

測角儀，應力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設備，波片相位延遲，剪切

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應用領域	醫療衛生,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶

　　在硅太陽能電池板的生產過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當這臺儀器被用作質量控制工具時，在后續加工成本發生之前，可以識別出低質量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質量的工具，使其能夠生產出較薄的硅片，降低了機械產量損失。

　　Hinds Instruments 的Exicor® 應力雙折射檢測系統PV-Si是Exicor雙折射測量系統系列產品的工作平臺的擴展。本系統采用高質量的對稱光彈性調制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光電二極管探測器，實現了光伏和半導體工業中硅材料的高精度雙折射測量，除硅外，還可測量藍寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用，可容納和測量直徑達8英寸的500毫米粗錠。臺面設計和直觀的自動掃描軟件使該產品成為原材料改進、研發和日常評估的選擇，也是對原始硅錠和其他高技術材料進行評估的選擇。