Keithley 大功率半導體器件測試系統2600-PCT-xB大功率半導體器件測試系統可以提供高達10kV或100A的電流、電壓測試范圍，可匹配目前的大功率半導體器件測試對大電壓和大電流的要求，通過增加選件也可實現高壓交流信號測試，大電壓可達3kV。該系統采用模塊化設計，客戶可根據目前要求選擇性價比合適的測試模塊，同時支持后續擴展升級。

• 廣泛的測試解決方案，包括測試源表、線纜、夾具、探針臺、軟件及應用案例；
• 電壓測試范圍從uV至10kV，電流測試范圍從fA至100A，可根據測試要求進行靈活選擇；
• 大功率交流信號測試模塊，可實現大電壓的C-V測試；
• 系統選用的波形記錄器及參數分析儀均沿襲了吉時利產品的高品質特性，為用戶提供高精度的測試數據；
• 該系統可同時兼顧封裝組件和片上晶圓的測試，既節省了測試時間，又節約了設備成本。

　　吉時利向您推薦2600-PCT-xB系列測試系統，可提供高達10kV或100A的電壓、電流范圍，不僅可以進行常規的IV測量，還可增加選件實現大功率的CV測量。該測試系統可以滿足各類大功率半導體器件的測試要求，而且該系統可以兼顧器件封裝后和片上測量，用一套系統就能實現器件不同階段的檢測，既簡化了測試環節也節省了設備成本。

開發和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。 Keithley參數波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設備類型和測試參數。Keithley參數波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測試（IV曲線測試）、電容電壓曲線測試（CV曲線測試）和高功率脈沖IV曲線測量。

Keithley 大功率半導體器件測試系統特點

• 完善的解決方案，價格實惠且性能優異

• 可現場升級和重新配置，將 PCT 轉換成可靠性或晶片分類測試儀

• 可配置功率電平：

• 200V 至 3kV

• 1A 至 100A

• 寬動態范圍：

• µV 至 3kV

• fA 至 100A

• 全量程容-電壓 (C-V) 能力：

• fF 至 µF

• 支持 2、3 和 4 端器件

• 高達 3kV DC 偏移

• 高性能測試夾具支持一系列軟件包類型

• 探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型，包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標準同軸三線電纜等