自動探測技術(shù)軟件
- 公司名稱 增宜檢測技術(shù)（上海）有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2021/8/29 21:43:40
- 訪問次數(shù) 2145
聯(lián)系方式：楊經(jīng)理18521063563 查看聯(lián)系方式
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增宜檢測技術(shù)（上海）有限公司是一家專注于無損檢測設(shè)備，理化分析計量儀器，實驗室科研器材銷售及服務(wù)的一站式集成供應(yīng)商。公司代理許多上享譽*的先進(jìn)產(chǎn)品。
我們提供的工業(yè)產(chǎn)品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機(jī)、平板探測器、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、聲發(fā)射檢測儀器、泄漏儀、內(nèi)窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設(shè)備。
我們的產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風(fēng)電、核工業(yè)、軍工、特檢和高校科研等多個行業(yè)領(lǐng)域，并贏得了廣大用戶的良好口碑。
公司秉承“至信卓業(yè)，客戶至上”的經(jīng)營宗旨，崇尚“專業(yè)，高效，共贏”的服務(wù)理念，為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。
主要代理如下公司產(chǎn)品：
奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/光譜儀
Third Dimension英國三維激光間隙測量儀
ZETEC探傷儀
GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內(nèi)窺鏡/射線機(jī)
萬睿視平板探測器/管頭
Eddyfi & M2M探傷儀
美國磁通磁粉滲透
Eddyfi & M2M探傷儀
奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2，英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀，美國萬睿視Varex射線數(shù)字平板探測器，奧林巴斯超聲波探傷儀，奧林巴斯渦流探傷儀，內(nèi)窺鏡，元素分析儀，美國磁粉滲透
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
自動探測技術(shù)軟件
設(shè)計
用戶可以直接在計算機(jī)中為檢測應(yīng)用選擇被測工件的幾何形狀，并定義焊縫、探頭、楔塊和組，從而可快速完成準(zhǔn)備設(shè)置的工作。
在NDT SetupBuilder中完成了檢測配置的定義后，只需點擊一下，就可以將參數(shù)導(dǎo)出，然后再將參數(shù)導(dǎo)入到OmniScan MX2和OmniScan SX探傷儀中。
用戶將配置導(dǎo)入到OmniScan MX2和OmniScan SX探傷儀后，可以調(diào)整參數(shù)，然后進(jìn)行校準(zhǔn)。到現(xiàn)在為止，OmniScan MX2和OmniScan SX探傷儀就已經(jīng)*準(zhǔn)備好，可以進(jìn)行檢測了。
分析和報告
用戶可以將檢測數(shù)據(jù)從OmniScan儀器傳輸?shù)接嬎銠C(jī)中的OmniPC軟件，進(jìn)行分析并制作報告。這樣就解放了OmniScan儀器，使其可以對另一個工件進(jìn)行檢測。
自動探測技術(shù)軟件
有助于提高檢出率和可靠性
提供符合規(guī)范的高質(zhì)量的數(shù)據(jù)
改進(jìn)了檢測的工作流程
相控陣探傷儀可以非常迅速地采集大量的編碼數(shù)據(jù)。如果不及時對這些數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，就有可能形成工作流程中的瓶頸。
適于初級和二級數(shù)據(jù)審查
自動定量指示缺陷的長度和高度
ADT軟件可以在幾秒鐘之內(nèi)處理單組或多組文件，生成詳細(xì)的數(shù)據(jù)質(zhì)量報告和缺陷指示報表。當(dāng)在缺陷指示報表中選擇了一個缺陷指示時，軟件就會自動調(diào)整視圖和光標(biāo)，以快速顯示缺陷在工件中的真實位置。在缺陷指示報表中更新或刪除缺陷指示的操作非常簡便。
只需簡單的培訓(xùn)，即可輕松自如地操作
滑動光標(biāo)到某個缺陷指示，即可迅速了解缺陷的位置
無論是在初步檢測，還是在檢測后的回顧過程中，這個軟件都可以通過清晰簡潔的格式為用戶提供頗具價值的信息。詳細(xì)的質(zhì)量報告有助于核查設(shè)置參數(shù)，發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)質(zhì)量的問題，并可以將生成的缺陷指示分組列出。
快速確認(rèn)所使用的設(shè)置是否正確
核查數(shù)據(jù)的質(zhì)量
為所有缺陷指示繪制S掃描和C掃描
要了解更多有關(guān)VeriPhase提供的ADT（自動探測技術(shù)）軟件，
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