X射線衍射儀（D8A25）樣品結構分析測試可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。

X射線衍射儀（D8A25）樣品結構分析測試可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精細Ｘ射線結構解析等各種分析。

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計算結晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

4. Rietveld結構分析

5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8. 微區樣品的分析

配置：1.九位進樣；2. 電化學原位池

功能：物相分析；電化學原位分析

參數：

1、 輸出功率：3Kw

2、 Cu靶，陶瓷X光管，2.2Kw

3、 測量范圍-100o≤2θ≤168 o 小角最小0.3度

4、 可讀最小步長：0.0001 o，角度重現性：0.0001 o

5、 定位速度：1200 o/min

6、 子探測器個數：192個

7、 整個探測器總背景：＜0.1 cps

8、 能量分辨率：＜9%