EPMA-1720的分析本領與的操作性能融為一體！前沿科技，隆重登場。

高靈敏度 ·  高精度 ·  高分辨率 「簡單•易懂的操作」

從軟件到硬件凝結技術，鑄就了新一代。島津在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎上，又新增了簡單·易懂的操作性能，將電子探針功能發(fā)揮既可滿足初學者簡易操作的需求，又能適合級的科研分析。

沿設計的X射線分光器可以實現(xiàn)高靈敏度·高精度分析

X射線取出角決定分析性能，52.5°高取出角更勝

圖為小孔穴中異物的分析實例。左下圖為鐵（Fe）、右下圖為鈦（Ti）的元素分布。因-1720具有高取出角，對表面凹凸明顯的樣品也能進行高精度分析。

 從SEM觀察到開始分析，簡便易行，大幅度提高工作效率。

同一顯示器上同時顯示高靈敏度的光學圖像和SEM圖像

在同一個顯示器上觀察光學圖像和SEM圖像。

SEM圖像和光學圖像在同一顯示器上，減少視線的移動。

通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。

只需單擊一下即可開始SEM圖像觀察。

島津EPMA-1720電子探針 顯微分析儀出租

只需點擊【SEM AUTO】圖標，就可以根據(jù)事先設定的條件進行SEM圖像的觀察。

束流變換更加簡單·快速·高精度，且保持聚焦。

只需選定束流目標值即可快速、高精度地自動設定束流。
通過聯(lián)動控制，束流大小改變后也能保持圖像聚焦狀態(tài)。

※外觀及規(guī)格的變動，恕不另行通知。

      技術參數(shù)：

      ●分析元素范圍 4Be～92U

      ●X射線分光器數(shù) 2～5 道

      ●X射線取出角 52.5°

      ●羅蘭圓半徑 4英寸(101.6mm)

      ●二次電子分辨率 6nm ( 1720), 5nm ( 1720H)

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