安捷倫 離子體質(zhì)譜 ICP-MS 7500

安捷倫 Agilent 7500 ICP-MS電感耦合等離子體質(zhì)譜是一種新型的無機元素和同位素分析技術，可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素。ICP-MS技術在分析能力上，超過傳統(tǒng)的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術(ICPAES)、石墨爐原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技術(CVAAS)的總和，被稱為當代分析技術更激動人心的發(fā)展。

安捷倫 離子體質(zhì)譜 ICP-MS 7500的應用領域包括：

環(huán)境樣品分析，包括自來水、地表水、地下水、海水以及各種土壤、廢棄物等的分析

半導體材料分析

玻璃、陶瓷和礦冶等樣品分析

地質(zhì)學研究

生物食品及醫(yī)藥臨床研究

核材料分析

石油化工樣品分析

法醫(yī)應用與研究

更近，與分離技術聯(lián)用進行環(huán)境毒理、生命科學等領域的元素價態(tài)、形態(tài)分析成為ICP-MS技術應用的一個焦點。

安捷倫Agilent 7500 ICP-MS分析特性：

可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素

更低的檢出限（低至ppq級）

分析效益/成本比更佳

更寬的線性動態(tài)范圍—可直接檢測從ppq到數(shù)百ppm濃度

譜線更簡單、干擾更小，準確度和精密度好

需要樣品量很低(ul至ml)，分析速度很快（1～3分鐘/樣品）

檢測模式靈活多樣

半導體工業(yè)常用材料中超痕量污染物分析

固體：Si；GaAa單晶切片；石英、碳化硅等爐材料；高純金屬電極等

液體：超純水；HF；HNO3；HCI；H2SO4；H2O2；氨水等

氣體：SiH4；TE0S；NF3；N2等

Agilent ICP-MS可直接分析有機樣品。

Agilent ICP-MS的高效能、高功率屏蔽矩冷等離子體技術已被用于測定一系列有機樣品的ppt級痕量污染元素。

對其中一些樣品，其他方法無法得到滿意的結果，高功率屏蔽矩冷等離子體技術是唯1的分析方法。

強堿性清洗劑——四甲基氫氧化氨(TMAH)等

常用有機溶劑——甲苯、二甲苯、IPA等

高基體樣品——光刻膠、液晶、BPSG、PSG等揮發(fā)性*的清洗劑——丙酮、甲醇等