x熒光手持光譜儀維修

   依據色散組件的分光原理，光譜儀器可分為：衍射光柵光譜儀和干與光譜儀。光學多道剖析儀OMA (Optical Multi-channel Analyzer)是近十幾年呈現的選用光子探測器(CCD)和計算機控制的新式光譜剖析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。

維修效率高，維修周期短，質量可靠，收費合理，保修12個月。

由于OMA不再運用感光乳膠，防止和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，丈量工作，使傳統的光譜技術發生了根本的改動，大大改善了工作條件，提高了工作效率；運用OMA剖析光譜，丈量敏捷，方便，且靈敏度高，響應時刻快，光譜分辨率高，丈量成果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛運用于簡直一切的光譜丈量，剖析及研討工作中，特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。

重新計算RPN就像執行每個建議的措施一樣.建議措施分為強制性，高優先級，中優先級或低優先級然后，按照RPN值的順序在每個類別中處理“建議的操作”如果未實施建議措施，該行動應由計劃管理部門和CSO書面證明并批準.5.5新的RPN對于每次采取的措施，都應計算出一個新的RPN。

x熒光手持光譜儀*維修就應立即執行GSE 開發中項目的接口為了執行GSE ，至少需要以下信息a）正在開發的項目和GSE的功能框圖分解為子系統和組件級別b）功能框圖中描述的每個功能的描述，包括每個模塊所需的輸入和輸出c）GSE與開發中的物品之間的接口的詳細設計說明，包括開發中的物品與GSE之間的每個接口回路，流體系統或機制可能發生故障的方式（即輸出低，頻率錯誤，錯誤運動等）d）GSE和正在開發中的項目中設計的補償規定。

可能是硬件，軟件或操作過程故障執行GSE 時，可能有多個潛在故障原因導致潛在故障模式潛在故障原因輸入在GSE 表格的第3列中5.3.7發生發生是潛在故障原因發生的相對頻率或可能性表1-1包含出現的評分“發生”值在GSE 表5.3.8的第4欄中輸入潛在的故障影響潛在故障影響是潛在故障模式對子系統/組件的影響（局部影響），系統（用于子系統）或子系統（用于組件）（下一個更高級別的效果）。