便攜式余氯測(cè)定儀CL-333便攜式余氯測(cè)定儀CL-333
儀器可直接測(cè)量水中的余氯及總氯，該方法具有操作簡(jiǎn)便、靈敏度高等特點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于城市供水、食品飲料、環(huán)境、醫(yī)療、化學(xué)、制藥、熱電、造紙、養(yǎng)殖、生物工程、發(fā)酵工藝、紡織印染、石油化工、水處理等領(lǐng)域的水質(zhì)現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)。
便攜式余氯測(cè)定儀技術(shù)指標(biāo)
1. 測(cè)量范圍：
余氯及總氯：0.02～10.00mg/L
2. 小分辨率：0.01mg/L
3. 示值誤差：≤±3%(F.S)
4. 重復(fù)性  ：≤2%
5. 光學(xué)穩(wěn)定性：儀器吸光值在20min內(nèi)漂移小于0.002A
6. 外形尺寸：80mm×230mm×55mm              
7. 重量： 500g  
8. 正常使用條件：
⑴ 環(huán)境溫度:5～40℃   ⑵ 相對(duì)濕度: ≤85%
⑶ 供電電源: 4節(jié)5號(hào)電池
⑷ 無(wú)顯著的振動(dòng)及電磁干擾，避免陽(yáng)光直射。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1. 高性能超低功耗16位單片機(jī)。
2. LCD大屏液晶顯示，操作方便直觀。
3. 儀器方便小巧，方便攜帶現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
4. 可保存標(biāo)準(zhǔn)曲線20條及199個(gè)測(cè)定值（含帶時(shí)間標(biāo)簽?zāi)辍⒃隆⑷铡r(shí)、分、秒的余氯值、吸光值及透光率）
5. 冷光源、窄帶干涉光學(xué)系統(tǒng)，光學(xué)穩(wěn)定性好。
6. 數(shù)據(jù)斷電保護(hù)功能。
7. 主機(jī)機(jī)殼采用模壓ABS材料，IP65設(shè)計(jì)，防腐防水防塵性能好。
產(chǎn)品配置
主機(jī)1臺(tái)、4節(jié)5#電池、余氯試劑1套（100次）、比色管3支，便攜箱1個(gè)，使用說明書1份、產(chǎn)品合格證1份及保修卡1份。

產(chǎn)品名稱：電池組監(jiān)測(cè)儀 產(chǎn)品型號(hào)：BM-24C

電池組監(jiān)測(cè)儀 型號(hào)：BM-24C

我公司電池組巡檢儀系列產(chǎn)品，用于電力直流屏，EPS電池組監(jiān)測(cè)，太陽(yáng)能電池組監(jiān)測(cè)。無(wú)論電池組有多少節(jié)電池，我們都有完善的解決方案。 

BM-24C電池組監(jiān)測(cè)儀用于對(duì)24只以下串聯(lián)電池組進(jìn)行實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè)，具有電池組電壓，單只電池電壓，電池溫度監(jiān)測(cè)、測(cè)量數(shù)據(jù)校準(zhǔn)、等功能，全靜態(tài)工作，液晶顯示, 同時(shí)支持CDT/微拓/MODBUS/華為(艾默生)通信協(xié)議。 

   本機(jī)可以獨(dú)立工作，也可以和其他廠家配套使用。液晶顯示，可測(cè)溫度，電流。

產(chǎn)品名稱：激光顆粒分布測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品型號(hào)：GSL-1010 1、基本參數(shù) 工作電壓：110-230V/48-63Hz 電流要求：<2A 儀器凈重：41Kg  體    積：575x295x253（mm） 說明：使用寬范圍電源供電，電源精度高，抗干擾能力強(qiáng)。電源部分具有防浪涌保護(hù)裝置，可以有效保護(hù)儀器避免感應(yīng)雷的雷擊。 2、激光 1）波長(zhǎng)：λ=650nm，松下紅色激光器。 2）準(zhǔn)直系統(tǒng)：本公司自行研制的準(zhǔn)直系統(tǒng)，內(nèi)置雙鏡片，在樣品中的光源Ф8mm圓光斑。 3）供電：高精度恒流源供電，提高激光器輸出的穩(wěn)定性。 4）輸出功率：5mW ，光路：平行光束。 5）典型壽命：大于25000小時(shí)。 采用半導(dǎo)體激光器，光學(xué)參數(shù)穩(wěn)定，抗振動(dòng)性好，不易損壞，壽命長(zhǎng)。 3、 樣品通路 在激光束中樣品的通道長(zhǎng)度：8.6mm 粒子與分散液接觸的系統(tǒng)材料：比色皿玻璃（石英玻璃需另行購(gòu)買） 外置超聲分散儀功率：80W 4、 透鏡 焦距：f=250mm 工作距離：250±1.0mm 固定方式：緊固，單透鏡測(cè)量 單透鏡工作方式，出廠前已預(yù)先固定完畢，抗振動(dòng)性好，在測(cè)試中無(wú)須更換鏡片， 并且無(wú)論各種粒度分布的樣品，全部由單一透鏡進(jìn)行測(cè)量，避免了測(cè)量誤差。 5、 探測(cè)器 元件數(shù)量： 66+8+1 探測(cè)器形狀：非對(duì)稱、非均勻扇型 對(duì)光方式：緊固，出廠前已校準(zhǔn) 校    準(zhǔn)：見本說明書6、 遮光比測(cè)量：?jiǎn)瓮ǖ?0X10mm大面積濃度探測(cè)器，可以實(shí)時(shí)測(cè)量被測(cè)樣品的濃度，避免 發(fā)生二次散射或者濃度過低的現(xiàn)象。 說明：光電探測(cè)器數(shù)量達(dá)到74個(gè)，使測(cè)量結(jié)果精度得到了提高，提高了單個(gè)光電探測(cè)器的受光面積，提高了靈敏度。 6、 光路調(diào)整    調(diào)整時(shí)間：<10秒鐘   調(diào)整方式：4象限X-Y軸自動(dòng)調(diào)整    鎖緊方式：電機(jī)自鎖     GSL-1010激光粒度儀內(nèi)置、全自動(dòng)、四象限光路調(diào)整系統(tǒng)，調(diào)整系統(tǒng)的運(yùn)行全部由上位機(jī)電腦控制，無(wú)需人工干預(yù)。調(diào)整系統(tǒng)可自動(dòng)對(duì)光路進(jìn)行調(diào)整，有效地避免由于運(yùn)輸、振動(dòng)等造成的光路偏移，而導(dǎo)致的測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)偏差等問題的發(fā)生，提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。 7、 測(cè)量 1）典型測(cè)量時(shí)間：30秒鐘（采樣16000次，不含樣品制備時(shí)間） 2）連續(xù)測(cè)量的短間隔時(shí)間： 0 秒 3）長(zhǎng)連續(xù)工作時(shí)間：12小時(shí)（超過需關(guān)機(jī)休息1個(gè)小時(shí)）8、 數(shù)學(xué)模型 4）光學(xué)模型：密氏理論 5）數(shù)學(xué)過程：高精度小二乘解析法/對(duì)數(shù)正態(tài)分布/Rosin-Rammler分布 6）測(cè)試原理：使用通用的Mie散射理論，符合標(biāo)準(zhǔn)要求。 7）解算方法為：多峰分布，可以真實(shí)反映樣品的分布狀態(tài)，同時(shí)輔助對(duì)數(shù)正態(tài)分布/    Rosin-Rammler分布以滿足用戶的特殊需求。 9、 輸出 1）測(cè)量范圍：0.1-600μm 2）粒度范圍：固定 3） 輸出類型：微分和累積分布表及曲線，給定粒度值的百分含量、給定百分含量的粒度 值、任意輸入粒度值的百分含量、描述顆粒及測(cè)試公司的相關(guān)信息 4）數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：輸出類型的全部及光散射通量密度 5) 報(bào)告格式：GSL格式、PDF格式、EXCEL格式、BMP格式等，測(cè)量結(jié)果多種保存方式，滿足用戶數(shù)據(jù)保存和交流的需求。 10、微量進(jìn)樣裝置 1) 樣品池容積：40毫升 2) 攪拌電機(jī)轉(zhuǎn)速：0~600轉(zhuǎn)/分鐘，轉(zhuǎn)速連續(xù)可調(diào)微量進(jìn)樣裝置操作簡(jiǎn)單、使用樣品量少，容易清洗，特別使用于需要使用乙醇、四氯化碳等特殊介質(zhì)才能可靠分散的樣品測(cè)試。攪拌器電機(jī)轉(zhuǎn)速連續(xù)可調(diào)，適合各種比重的樣品。 11、性能 重復(fù)性（在一臺(tái)儀器之內(nèi)）： <±0.5% (使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試樣品，以D50計(jì)算) 復(fù)現(xiàn)性（一臺(tái)儀器相對(duì)與另一臺(tái)）：<±0.75%（使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試樣品，以D50計(jì)算） 系統(tǒng)誤差：<±1%（使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試樣品，以D50計(jì)算） 12、軟件運(yùn)行環(huán)境： Windows98/xp/7/8 13、計(jì)算機(jī)接口：USB2.0,采樣速度可以達(dá)到460800kb 14、其他：  電源設(shè)計(jì)：多重EMI抗干擾設(shè)計(jì)手段，具有防電磁干擾功能，可提高儀器的抗干擾能力，提高測(cè)試的準(zhǔn)確性，防浪涌（雷擊）功能，可以有效防止感應(yīng)雷擊對(duì)儀器的損害。 內(nèi)置溫、濕度檢測(cè)：儀器內(nèi)部設(shè)計(jì)有溫度、濕度檢測(cè)電路，防止由于溫度、濕度不在合適的范 圍，對(duì)儀器的測(cè)量結(jié)果造成影響，同時(shí)防止儀器內(nèi)部光學(xué)部件發(fā)霉等情況發(fā)生。