合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀

產品概述：

M-5臺式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

合肥科晶 M-5臺式四探針測試儀產品特征：

• 測試儀由M-5型主機和四探針探頭以及快速恒壓四探針測試臺三部分組成

• 臺式設計，帶完善厚度、形狀修正功能，測試精準

• 寬量程：超寬五個檔位，相當于中檔臺式機的量程

• 操作簡便、性能穩定：輕觸數字化鍵盤實現參數設定、功能轉換，LED數字表頭顯示

• 多款探頭可選，適用于各種不同材料的導電性能測試

工作電源：

• 208-240V，50/60Hz

• 功率：20W

探頭：

• 根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配：

• 碳化鎢探針探頭（固體材料）：φ0.5mm，探針間距1.0mm，測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料

• 球形或平頭鍍金銅合金探針探頭（薄膜）：φ0.7mm，探針間距2mm，可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底

• 上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層

• 探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差

選配：快速恒壓四探針測試臺，對測試壓力進行調節保證恒壓測試，提高測試的精確度

測量范圍、分辨率：

• 電阻：10-5～2*105Ω 分辨率：10-6～102 Ω

• 電阻率：10-5～2*105Ω-cm 分辨率：10-6～102 Ω-cm

• 方塊電阻：5*10-5～9*105Ω/m2  分辨率5*10-6～5*102Ω/m2

基本誤差：±1%FSB±2LSB

外形尺寸：220mm L × 245mm W × 100mm H

凈重：2.5kg