一般來說，打標系統中激光束穿過聚焦透鏡系統后會產生離軸偏轉現象,相對理想的平面而言，會在打標面上出現異常圖像或畸變。平場聚焦鏡，也稱場鏡、f-theta聚焦鏡，是一種專業的透鏡系統，目的是將激光束在整個打標平面內形成均勻大小的聚焦光斑，是激光打標機的重要配件之一。場鏡可分為f-theta透鏡和遠心透鏡。由于遠心透鏡的成本和費用很高，在工業應用的激光打標機中主要使用F-theta透鏡。在沒有變形的情況下，聚焦點的位置取決于透鏡的焦距以及偏轉角的切線，聚焦點的位置僅取決于焦距和偏轉角，這樣就簡化了焦點定位的計算方法。

選用場鏡，主要考慮的技術參數是工作波長、入射光瞳、掃描范圍和聚焦光斑直徑。

• 工作波長：主要是看激光器的波長，場鏡是在給定的激光波長鍍膜的。如果不在給定的波長范圍內用場鏡，場鏡會被激光燒壞的。
• 入射光瞳：如使用的是單片鏡，反射鏡置于入射光瞳的地方，大可用光束的直徑等于入射光瞳的直徑。
• 掃描范圍：場鏡能掃描到的范圍越大，當然越受使用者的歡迎。但是如果增加掃描范圍，聚焦光點變大，失真度也要加大。另外加大掃描范圍，場鏡焦距和工作距也要加大。工作距離的加長，必然導致激光能量的損耗。還有聚焦后的光斑直徑跟焦距成正比，這意味著加大掃描范圍，聚焦光斑直徑跟著加大，光斑聚得不夠細，激光的功率密度下降非常快（功率密度跟光斑直徑的2次方成反比），不利于加工。所以使用者要根據不同的加工面積選用較適合的場鏡，或者備用幾個不同掃描范圍的場鏡。
• 聚焦光斑直徑：對于入射激光束直徑D、場鏡焦距F和光束質量因子Q的掃描系統，聚焦光斑直徑d = 13.5QF/D (mm)。所以用擴束鏡可以得到更小的聚焦光斑。
• 本產品主要用于激光打標機、舞臺燈光中，也可用于科學試驗和激光測量儀器中。

熔融石英高功率掃描場鏡 JENar™ Silverline™ F-theta

熔融石英場鏡吸收小，是大功率和短脈沖應用的理想之選

Jennar ™ F-theta場鏡特別適用于千瓦范圍內的中功率和大功率應用的微加工。您可以在紫外線至可見光和紅外線的激光波長下使用標準場鏡：您將獲得波長為1080至266 納米的場鏡。

Silverine™F-theta場鏡專為大功率和短脈沖激光器的應用而設計。熔融石英場鏡具有極低的吸收可適用于*能量激光加工，波長范圍為1030~10180nm。900~1100nm。355nm，266nm。

我們的場鏡設計接近衍射極限，可提供高質量圖像，在整個掃描區可獲得*的激光損傷閾值和*的光斑*性。Silverline™場鏡能應對高達4Kw的激光輸出功率，而無需主動冷卻，它們能在*能量的激光應用中實現小的焦點偏移。我們可以提供標準版F-theta場鏡，亦可根據要求定制。

適用波長范圍為355nm的F-theta Silveline™場鏡170-355-140，大遠心角僅為4.9°，在100×100mm掃描范圍可獲得高質量的均勻光斑分布。該場鏡是大幅面與衍射極限高質量圖像的*結合，其生產能力遠高于市場上可用的標準場鏡。我們采用新的高品質光學安裝技術，可確保所需的精度水平。

優勢：

• 非常耐用：得益于特殊的低污染安裝技術
• 高精度：新的安裝技術，可確保所需的精度水平
• 高效靈活：能應對高達4Kw的光功率，而無需主動冷卻
• 自定義：提供標準版或根據個人需求特別定制版產品
• 連續穩定性：全面的測試保證了批量生產的*性

典型應用：

• 鋰電池焊接和極耳切割
• 3D增材制造
• 印刷電路板切割及鉆孔
• 脆性材料切割鉆孔
• 太陽能劃線/摻雜/開窗
• OLED模組柔性切割

標準掃描場鏡 JENar™ F-theta

JENar™ F-theta場鏡特別適用于中功率應用的激光加工，產品系列為1030—1080至355nm，您可以在紫外至可見光和紅外線的激光波長下使用標準場鏡。業納的標準F-theta場鏡極為耐用，能夠適用于高精度激光材料加工。您可將其用于各類材料的微結構激光打標和切割焊接。每個場鏡都配有防護玻璃，作為一項特別服務，我們可以為您提供STEP和ZMAX-Blackbox文件，您可以將JENar™ F-theta場鏡快速而又輕松地應用于您的系統中。

優勢：

• 非常耐用：得益于特殊的低污染安裝技術
• 高精度：適用于各種微結構打切割
• 靈活：快速而又輕松的集成至現有系統
• 自定義：提供標準版活根據客戶定制版產品
• 高效：通過對光學組件的熱機械應力的有限元分析節省資金
• 連續穩定性：全面的測試保證了現場的可替代性