TESCAN AMBER-X FIB-SEM雙束電鏡
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 上海永傲精密儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2019/10/11 14:52:12
- 訪問次數 1517
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價格區間 | 400萬-500萬 | 儀器種類 | 場發射 |
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應用領域 | 醫療衛生,生物產業,鋼鐵/金屬,公安/司法,綜合 |
TESCAN AMBER-X FIB-SEM雙束電鏡 是*結合了分析型等離子FIB和超高分辨(UHR)掃描電鏡的綜合分析平臺,能夠同時提供高效率、大面積樣品刻蝕,多模態的樣品表征,以及在無鎵注入干擾狀態下進行樣品制備和改性。
TESCAN AMBER X 具備快速精確的等離子體FIB刻蝕和無漏磁超高分辨SEM成像的特性,使其成為多項研究方案的選擇,例如快速制備出寬度可達1 毫米的截面; 高通量、多模態的FIB-SEM斷層掃描,可快速獲得三維重建圖像和可視化數據; 元素化學和/或晶體取向研究; 無注入離子干擾狀態下制備出微米和納米結構,以便通過其它分析方法進行后續測試或表征等。
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