JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 湖南艾克賽普測(cè)控科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2023/12/20 15:00:32
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 3049
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電力電子測(cè)試儀器、分析檢測(cè)儀器，聲學(xué)振動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)、無(wú)損探傷系統(tǒng)、系統(tǒng)集成定制
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車(chē)及零部件,電氣 |
|---|
JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡標(biāo)配了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍和全新的高階球差校正器。無(wú)論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng)，采用像差校正算法，可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。由此實(shí)現(xiàn)了高通量的原子級(jí)分辨率成像。此外，新型STEM檢測(cè)器不依賴(lài)于加速電壓就可以獲得高襯度的輕元素圖像。因此，利用能增強(qiáng)輕元素襯度的新STEM成像技術(shù)可以更加簡(jiǎn)便地觀察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。
JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差(即6重像散，目前阻礙透射電鏡分辨率進(jìn)一步提高的大障礙。)，ASCOR和Cold-FEG的*組合實(shí)現(xiàn)了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率。JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法，校正像差不需要交換標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統(tǒng)校正算法的系統(tǒng)相比，JEOL CMSMO™能夠高速處理數(shù)據(jù)，并且使操作進(jìn)一步自動(dòng)化。因此，客戶(hù)在工作流程中可以簡(jiǎn)便高效地進(jìn)行高分辨率觀察及各種元素分析。
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