Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是目前市場上功能強大的粒度與Zeta電位分析儀。

omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀?作先將背向光散射技術（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應用全新的光纖技術將背向光散射技術與傳統動態光散射技術進行了*結合，突破性地推出了結合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現，突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性，實現在同一臺粒度分析儀中，既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，高可達40%wt；硬件PALS技術（與傳統基于頻移技術的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應用，*解決了*以來無法對諸如在低介電常數、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，omni高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀?傳統方法沒有足夠的分辨率進行測量）的樣品進行分析的難題。Omni是目前市場上功能強大的粒度與Zeta電位分析儀。