DIL 402 Expedis Classic 熱膨脹儀，測量樣品因熱環(huán)境的變化而引起的尺寸變化。使用該儀器可以精確的測量線性熱膨脹系數(shù)，伴隨燒結(jié)現(xiàn)象的收縮，以及清楚反映材料的相變、熱處理特性等各種物理和化學(xué)變化的線性尺寸的變化。通過復(fù)制熱循環(huán)及實際過程中的變化速率，可以對引起材料的尺寸變化的過程參數(shù)進行充分的研究。功能強大的軟件可以控制產(chǎn)生各種熱循環(huán)，因此復(fù)雜的過程能夠得到容易的模擬。

DIL 402 Expedis Classic 熱膨脹儀技術(shù)參數(shù)
溫度范圍：RT … 1600°C
升溫速率：0.001 ... 50 K/min
測量系統(tǒng)：NanoEye（單樣品，或雙樣品/差示系統(tǒng)）
樣品支架：熔融石英或氧化鋁，可自由更換。
溫度準確度：1 K
溫度精度：0.1 K
m.CTE（平均線膨脹系數(shù)）重復(fù)性：10-8 1/K
測量范圍：± 5000 μm
分辨率：2 nm（全量程）
樣品長度：0…52mm（自動樣品長度測量）
氣體控制：1 路（標配），或 3 路（選配）
氣氛：惰性，氧化性，靜態(tài)/動態(tài)
可選配空氣壓縮冷卻系統(tǒng)