日立L型FIB-SEM-Ar三束系統NX9000掃描電鏡
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- 公司名稱 上海天美科學儀器有限公司-C
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/6/24 17:33:22
- 訪問次數 430
產品標簽
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| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 場發射 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,生物產業 |
日立L型FIB-SEM-Ar三束系統NX9000掃描電鏡可以自動重復進行FIB制備截面和掃描電鏡觀察，能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現特定顯微切片的三維結構分析。NX9000中的SEM鏡筒和FIB鏡筒呈正交結構，而不是常見的對角構造。這種形式是進行三維結構分析理想的結構，能夠穩定收集準確反映樣品的真實結構的圖像。
日立L型FIB-SEM-Ar三束系統NX9000掃描電鏡主要特點：
1. 高分辨SEM冷場發射電子槍1.6nm@15kV，高襯度成像
2. SEM和FIB鏡筒垂直，能進行更真實的三維結構分析
3. 可實現觀察加工過程
4. 全自動TEM樣品制備
5. 高精度加工
6. 可選Ar和Xe離子源
應用領域：
1. 新材料
2. 納米材料
3. 電子元器件研發
4. 生物結構研究
采購中心
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