日立新型FIB系統MI4050掃描電子顯微鏡
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- 公司名稱 上海天美科學儀器有限公司-C
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/6/24 17:30:46
- 訪問次數 390
產品標簽
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| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 場發射 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,生物產業 |
日立新型FIB系統MI4050掃描電子顯微鏡是高效率的聚焦離子束設備，它使用了全新的電子光學系統，具有世界的SIM圖像分辨率，并且TEM樣品制備效果優異。MI4050廣泛用于截面觀察、微電路修復、納米圖像制備和納米沉積等。而新開發的微樣品取樣、樣品裝載和樣品導航功能則進一步提高了分析效果。
日立新型FIB系統MI4050掃描電子顯微鏡主要特點：
1. 高效率、高質量加工，二次離子分辨率：4nm@30kV
2. 高分辨、高襯度SIM成像
3. 全自動TEM樣品制備
4. 大尺寸樣品加工
應用領域：
1. 納米材料微加工
2. 半導體及電子元器件材料
3. 生命科學
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