NanoCalc薄膜反射光譜儀系統
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 雷迪美特中國有限公司-C
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2019/4/12 19:42:14
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薄膜的光學特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統可以用來進行10nm~250μm的膜厚分析測量，對單層膜的分辨率為0.1nm。根據測量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。
NanoCalc薄膜反射光譜儀系統特點
可分析單層或多層薄膜
分辨率達0.1nm
適合于在線監測
操作理論
常用的兩種測量薄膜的特性的方法為光學反射和投射測量、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進行膜厚測量。
查找n和k值
可以進行多達三層的薄膜測量，薄膜和基體測量可以是金屬、電介質、無定形材料或硅晶等。NanoCalc薄膜反射光譜儀系統軟件包含了大多數材料的n和k值數據庫，用戶也可以自己添加和編輯。
應用
NanoCalc薄膜反射材料系統適合于在線膜厚和去除率測量，包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質上的抗反射涂層、抗磨涂層等。
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