NDA 500型X熒光光譜儀主要配置

?SDD硅漂移電制冷半導體探測器

?側窗鉬（Mo）靶管

?標配16組復合濾光片

?配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器

?具有自動Mapping功能

?具備符合中國國家標準的樣品混側功能

?內置標準工作曲線

?配置On-line實時在線技術支持與服務平臺

?具備開放工作曲線技術平臺

?分析軟件操作系統分級管理

NDA 500型X熒光光譜儀產品參數

?名稱：X熒光光譜儀

?型號：NDA500

?輸入電壓：220±5V/50Hz

?消耗功率：≤500W

?環境溫度：15-30℃

?環境濕度：≤80%（不結露）

?主機外形（mm）:長＊寬＊高=900*500*440

?樣品倉（mm）:長＊寬＊高=430*380*120

?主機重量：約60公斤

技術指標

?元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素

?測量時間：

        對聚合物材料，典型測量時間為30秒

        對銅基體材料，典型測量時間為30秒

?檢出限指標（LOD）：

        對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

?精密度指標，以連續測量7次的標準偏差σ表征：

    對聚合物（塑膠）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

?準確度指標，以系統偏差δ進行表征

        對聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

        對銅基體材料：δ（Pb）≤150mg/Kg