供應日本三豐SV-3200S4臺式表面粗糙度儀

產(chǎn)品特點：

1.評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。

2. 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。

3.標配高分辨率的Z1軸檢出器，zui高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。

4.Z1軸的zui高顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。

5. X軸驅(qū)動裝置裝配高精度玻璃光柵尺，實現(xiàn)X軸方向移動的高精準定位。SV-3200系列為驅(qū)動裝置采用陶瓷導軌以提高抗磨性，延長使用壽命。

6.X軸的分辨力為0.05μm。

7.標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選擇，無需考慮設備本體是否有裝配傾斜裝置。

8.驅(qū)動裝置中的DAT功能可以輕松調(diào)整測量工件的水平。

9.表面粗糙度測量儀SURFTEST SV-3200 系列 定位速度及精度實現(xiàn)了更高效率及高精度表面粗糙度測量。 更短測量時間、消除人為誤差、高度耐用性。 

10.通過多功能化和高效率化的新選件的組合實現(xiàn)了高生產(chǎn)能力。 實現(xiàn)了zui高定位速度(X軸：zui大80mm/s,Z軸：zui大30mm/s)的高精度、多功能觸針式表面粗糙度測量機。

輪廓測量技術參數(shù):

X軸

測量范圍:100mm或200mm

分辨率:0.05μm

檢測方法:反射型線性編碼器

驅(qū)動速度:80mm/s、外加手動

測量速度:0.02-5mm/s

移動方向:向前／向后

直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm *以X軸為水平方向上

指示精度(20°C時):±(0.8+0.01L)μm(SV-C3200S4,H4,W4) (SV-C4500S4,H4,W4)

±(1+0.02L)μm(SV-C3200S8,H8,W8) (SV-C4500S8,H8,W8) *L為驅(qū)動長度(mm)

傾角范圍:±45°

Z2軸(立柱)

垂直移動:300mm或500mm

分辨率:1μm

檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

驅(qū)動速度:0-30mm/s、外加手動

Z1軸(檢測器)

測量范圍:±30mm

分辨率:0.04μm(SV-C3200),0.02μm(SV-C4500)

檢測方法:圓弧光柵尺

指示精度(20°C時):±(1.6+I 2H I/100)μm(SV-C3200)

±(0.8+I 2H I/100)μm(SV-C4500) *H:基于水平位置的測量高度(mm)

測針上／下運作:弧形移動

測針方向:向上／向下

測力:30mN

跟蹤角度:向上:77°,向下:83°

測針針尖*半徑:25μm、硬質(zhì)合金*

技術參數(shù)：

X1軸

測量范圍:100mm或200mm

檢測方法:線性編碼器

驅(qū)動速度:80mm/s

移動方向:向后

直線度:(0.05+L/1000)μm(S4,H4,W4型)

0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)

Z2軸(立柱)垂直移動:300mm或500mm

分辨率:1μm

檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

驅(qū)動速度:0-30mm/s、外加手動

檢測器

范圍／分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm(2400μm使用測頭選件)

檢測方法:無軌／有軌測量

測力:4mN或0.75mN(低測力型)

測針針尖:金剛石、90o/5μmR(60o/2μmR:低測力型)

導頭曲率半徑:40mm

檢測方法:差動電感式

 供應日本三豐SV-3200S4臺式表面粗糙度儀