工藝過程成像探頭系統高光譜儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 深圳黎華分析儀器有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/3/4 14:28:44
- 訪問次數 610
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| 成像方式 | 三維 | 工作原理 | 其他 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 使用狀態 | 機載/地面均可 |
工藝過程成像探頭系統高光譜儀技術指標
- 測量范圍：數微米到數毫米(與鏡頭放大倍數，相機等相關)
- 測量方式：在線測量晶體形態，平均尺寸，顆粒大小分布
- 測量濃度：可高達50%固體顆粒濃度(與顆粒形狀相關)
- 工作溫度：-10℃ - 120℃
工藝過程成像探頭系統高光譜儀性能特征
- 特殊設計的探頭(相機/鏡頭/光源)可廣泛地適用于許多困難物系（尤其是非透明顆粒物系及高固體濃度）。 探頭具有耐腐蝕性，能夠對ph值1~12范圍內的樣品進行測量。
- 由于特殊的光源設計,本系統可有效地防止顆粒沉積/粘結于探頭上。
- 根據不同物系及客戶要求,本系統可設計不同方案(包括氣體清理系統)。
- 強大的圖像處理功能可實現顆粒多尺度分割, 計算顆粒形狀參數 (主元素分析和傅立葉變換)，聚類分析和定量產品/過程控制。
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